【技术实现步骤摘要】
本申请属于半导体制备,具体涉及一种小分子光刻胶组合物及其制备和应用。
技术介绍
1、在半导体技术的核心领域,集成电路的图形转换主要依赖于光刻技术。随着科技的不断进步,光刻技术的光源波长已经经历了显著的变化,从436nm的g线、365nm的i线、248nm的krf线,到193nm的arf线,直至最新的极紫外光源13.5nm的euv。这一转变不仅展现了技术的飞跃,也揭示了对于更精细工艺的无尽追求。
2、光刻胶,作为光刻过程中的关键媒介,其性能对集成电路的制造具有决定性影响。分辨率、灵敏度和线宽粗糙度是衡量光刻胶质量的三大核心指标。它们直接关系到集成电路图形的精确度以及制造工艺的优化程度。因此,提升这三个关键指标成为了改善光刻胶性能的重中之重。
3、传统的光刻胶主要以聚合物为基础材料。然而,由于聚合物分子量大、分子链较长,在光刻过程中容易出现聚合物链间的缠结,进而导致基体产生内应力与溶胀效应,最终使得光刻图案的线边缘粗糙度增加。
4、为了解决这一问题,小分子化合物逐渐受到关注并在光刻胶领域得到应用。这些小分
...【技术保护点】
1.一种小分子组合物,其特征在于,所述小分子组合物包括下述组分:
2.根据权利要求1所述小分子组合物,其特征在于,所述式3化合物中的M为金属元素或类金属元素,并优选为选自铝(Al)、镁(Mg)、钙(Ca)、银(Ag)、铜(Cu)、锌(Zn)、钛(Ti)、钒(V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、镓(Ga)、锗(Ge)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、钌(Ru)、铑(Rh)、钯(Pd)、铟(In)、锡(Sn)、锑(Sb)、钽(Ta)、钨(W)、铱(Ir)、铂(Pt)、镧(La)、铈(Ce)、镨(Pr)、钕(Nd)、钷(Pm)、
...【技术特征摘要】
1.一种小分子组合物,其特征在于,所述小分子组合物包括下述组分:
2.根据权利要求1所述小分子组合物,其特征在于,所述式3化合物中的m为金属元素或类金属元素,并优选为选自铝(al)、镁(mg)、钙(ca)、银(ag)、铜(cu)、锌(zn)、钛(ti)、钒(v)、铬(cr)、锰(mn)、铁(fe)、钴(co)、镍(ni)、镓(ga)、锗(ge)、锆(zr)、铌(nb)、钼(mo)、钌(ru)、铑(rh)、钯(pd)、铟(in)、锡(sn)、锑(sb)、钽(ta)、钨(w)、铱(ir)、铂(pt)、镧(la)、铈(ce)、镨(pr)、钕(nd)、钷(pm)、钐(sm)、铕(eu)、钆(gd)、铽(tb)、镝(dy)、钬(ho)、铒(er)、铥(tm)、镱(yb)、镥(lu)、钇(y)和钪(sc)中的一种或更多种;更优选地,所述m为sn、sb、te、ti、zr、zn、hf中的一种或更多种;更优选地,所述m为zr或hf。
3.根据权利要求1所述的小分子组合,其特征在于,所述l1为式8所示结构,式8如下所示:
4.根据权利要求1所述小分子组合物,其特征在于,所述式3化合物选自以下化合物:
5.根据权利要求1所述小分子组合物,其特征在于,r1选自单键、氧原子、卤素原子(如f、cl、br、i)、羟基、碳原子数1-12的烷基(如-ch3、-ch2-ch3、-ch2-ch2-ch3、-ch2-ch(ch3)-ch3)、碳原子数5-12的脂环式烷基(如环戊烷基、环己基)、碳原子数...
【专利技术属性】
技术研发人员:金光男,
申请(专利权)人:连云港邃铸科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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