【技术实现步骤摘要】
本技术涉及材料性能检测,具体而言涉及一种阵列式多通道应变测量装置。
技术介绍
1、传统力学实验中,能够测量的是均匀材料单向受力状态下一维应变。然而,在实际工程问题中,往往需要对非均匀材料的局部变形进行评估,如焊接结构、焊缝应变、轮廓变化等,满足对结构安全性的需求,这对传统力学试验测定提出了新的挑战。
2、目前能够对非均匀材料的局部变形进行评估的方式主要是光学测量dic技术,基于现代数字图像处理技术与数值分析理论相结合的光学测量方法。通过对变形前后被测物体表面的散斑图像进行相关搜索计算,可以快速、精准地获得相关变形信息。光学测量dic技术通过多个平面的投影总和得到的近似三维变形,数据精度高度依赖于数据处理过程,且存在前处理时间长,样品形式要求高,设备昂贵,对材料表面要求高等问题。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的缺陷与不足,本技术目的在于提供一种阵列式多通道应变测量装置,通过设计接触式位移计阵列以及样品轮廓变化测量数学模型,测量变形过程中试验材料的整体变形,并且在测试过程中保
...【技术保护点】
1.一种阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,所述阵列测量组件包括在每个侧壁面方向等间距分布的多个位移计组成的位移计阵列,形成m*n阵列分布;m和n分别表示大于等于3的正整数;相邻位移计之间的间距为H;
3.根据权利要求1所述的阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,所述每一个侧壁面的外表面设置的X形状固定组件包括位于侧壁面的四个角位置的圆形支柱(111)以及X形固定架(112),X形固定架(112)的四个支臂分别与四个角位置的圆形支柱(111)固定形成一体。
4.
...【技术特征摘要】
1.一种阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,所述阵列测量组件包括在每个侧壁面方向等间距分布的多个位移计组成的位移计阵列,形成m*n阵列分布;m和n分别表示大于等于3的正整数;相邻位移计之间的间距为h;
3.根据权利要求1所述的阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,所述每一个侧壁面的外表面设置的x形状固定组件包括位于侧壁面的四个角位置的圆形支柱(111)以及x形固定架(112),x形固定架(112)的四个支臂分别与四个角位置的圆形支柱(111)固定形成一体。
4.根据权利要求3所述的阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,对于任意一侧壁面设置的x形固定架(112),x形固定架(112)的交叉中心点在侧壁面的投影与侧壁面的对角线交点重合。
5.根据权利要求1所述的阵列式多通道应变测量装置,其特征在于,所述隔离机构包括固定到侧壁面的扭转弹簧(122)以及与扭转弹簧的两个支腿分别固定的导轮杆(121),每个导轮杆(121)的上端连接上导轮(123),下端连接下导轮(124);
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【专利技术属性】
技术研发人员:淡振华,尹童,常辉,屈平,张爱锋,
申请(专利权)人:南京工业大学,
类型:新型
国别省市:
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