防止壅塞配置方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种防止壅塞配置方法及装置，可以解决先前技术中由于电路布局中的壅塞区域使得电子组件间的绕线难以进行，因而导致该电路布局无法通过设计规则检查的现象；且解决电路布局中的电子组件壅塞现象时并不会造成空间使用率的降低或是芯片尺寸的增加等负面影响，甚至还可提高电子组件间绕线的弹性。它包含判断模块、模式产生模块及配置模块。该判断模块系用以根据判断规则判断电路布局是否包含壅塞区域。若判断模块之的判断结果为是，模式产生模块将会产生一重新分布模式。该重新分布模式包含阻挡单元之的密度分布。该密度分布系呈现由内向外递减之的型式。该配置模块系用以根据重新分布模式以壅塞区域为中心重新配置阻挡单元及电子组件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电路布局的配置，尤指一种避免电路布局中产生壅塞区域的防止壅塞配置装置及方法。
技术介绍
随着电子科技不断地发展，各式各样的电子产品的体积愈来愈轻薄短小，但其具 备的功能亦愈来愈多。因此，在面积相当小的芯片中必须设置有数目非常庞大的各种电子 组件，才足以应付电子产品的实际需求。 然而，于某些电路布局中，由于某一区域内的电子组件太多，亦即该区域的电子组 件密度过大，使得该区域的某些电子组件间的绕线(routing)难以进行，因而无法通过设 计规则检查(design rule checking)，导致该电路布局无法正常运作。 举例而言，若设置在芯片上的某一电路布局包含有复数个组合组件及复数个循序 组件，如图1所示，组合组件(combination cell)系以c表示，而循序组件(sequential cell)则以s表示，箭头代表资料流动方向，至于网格线部分则代表阻挡物(blockage)或组 件之间的间隙(spacing)。 于此例中，假设于整体空间1中的电子组件密度为70%，也就是说，电子组件(组 合组件c与循序组件s)总共占有整体空间1的70%，而阻挡物和组件间本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种防止壅塞配置方法，应用于设置一电路布局，该电路布局包含复数个电子组件及复数个阻挡单元，该等电子组件及该等阻挡单元系以一预设配置方式配置于该电路布局，其特征在于，该防止壅塞配置方法包含下列步骤：（ａ）根据一判断规则判断该电路布局是否包含一壅塞区域；（ｂ）若步骤（ａ）的判断结果为是，产生一重新分布模式，其中该重新分布模式包含该等阻挡单元的一密度分布，该密度分布系呈现由内向外递减的型式；以及（ｃ）根据该重新分布模式以该壅塞区域为中心重新配置该等阻挡单元及该等电子组件。

【技术特征摘要】
一种防止壅塞配置方法，应用于设置一电路布局，该电路布局包含复数个电子组件及复数个阻挡单元，该等电子组件及该等阻挡单元系以一预设配置方式配置于该电路布局，其特征在于，该防止壅塞配置方法包含下列步骤(a)根据一判断规则判断该电路布局是否包含一壅塞区域；(b)若步骤(a)的判断结果为是，产生一重新分布模式，其中该重新分布模式包含该等阻挡单元的一密度分布，该密度分布系呈现由内向外递减的型式；以及(c)根据该重新分布模式以该壅塞区域为中心重新配置该等阻挡单元及该等电子组件。2. 如权利要求1所述的防止壅塞配置方法，其特征在于，该判断规则系与配置于该壅 塞区域内的电子组件的密度是否过高有关。3. 如权利要求1所述的防止壅塞配置方法，其特征在于，该等阻挡单元为最小尺寸阻 挡物，该等电子组件不与该等阻挡单元形成任何重迭状态。4. 如权利要求1所述的防止壅塞配置方法，其特征在于，该等阻挡单元为可穿透阻挡 区域，该等电子组件与该等阻挡单元产生部分重迭状态。5. 如权利要求1所述的防止壅塞配置方法，其特征在于，重新配置后的一间隙比例与 重新配置前的一间隙比例系实质相同。6. 如权利要求1所述的防止壅塞配置方法，其特征在于，该密度分布系透过随机方式 产生。7. —种防止壅塞配置装置，应用于设置一电路布局，该电路布局包含复数...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗振兴，卢建邦，
申请(专利权)人：晨星软件研发深圳有限公司，晨星半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]