硬件装置测试方法及硬件装置测试系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种硬件装置测试方法及硬件装置测试系统，是用以测试一主机中的硬件装置，硬件装置测试方法包含下列步骤：开始执行主机的开机测试程序；由硬件装置撷取多个测试结果数据；分别附加至少一标签于测试结果数据；储存测试结果数据于内存区块；以及在开机测试程序完成后，根据各测试结果数据的标签分析测试结果数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种硬件装置测试方法，且特别是有关于一种硬件装置测试方法及硬件装置测试系统。
技术介绍
在计算机主机的开机过程中，计算机主机中的各个硬件装置常会进行各种测 试。已知的除错方式，常常在硬件测试过程之中，通过通用异步收发传输器(universal asynchronous receiver/transmitter ;UART)连接端口将测试结果数据直接同时输出，以 由测试结果数据来进行除错。然而，由于通用异步收发传输器连接端口处理速度较为缓慢， 对于部分处理时间短暂而迅速的硬件装置，将造成较大的影响，而使测试结果数据并不准 确。并且，在高温环境下，外接通用异步收发传输器连接端口 ，也容易对硬件装置的测试结 果数据产生影响。 因此，如何设计一个新的硬件装置测试方法，使硬件装置产生的测试结果数据具 有高准确度及可利用性，是业界中亟待解决的问题。
技术实现思路
因此本专利技术的目的在于提供一种新的硬件装置测试方法和系统，使硬件装置产生 的测试结果数据具有高准确度及可利用性。 为了实现上述目的，本专利技术提供一种硬件装置测试方法，用以测试一主机中的硬 件装置，硬件装置测试方法包含下列步骤开始执行主机的开机测试程序；由硬件装置撷 取多个测试结果数据；分别附加至少一标签于测试结果数据；储存测试结果数据于内存区 块；以及在开机测试程序完成后，根据各测试结果数据的标签分析及显示测试结果数据。 为了实现上述目的，本专利技术还提供一种硬件装置测试系统，用以测试一主机中的 硬件装置，硬件装置测试系统包含数据处理模块、内存区块以及分析模块。数据处理模块 是用以在主机的开机测试程序起始执行后，撷取硬件装置的多个测试结果数据，并分别附 加至少一标签于测试结果数据；内存区块是用以储存测试结果数据；以及分析模块是在开 机测试程序完成后，根据各测试结果数据的标签分析测试结果数据。 本专利技术的优点在于能够利用内存区块储存测试结果数据，避免直接于开机测试程序中读取测试结果数据，而对硬件的效能造成干扰而无法正确地进行除错，并通过分析测试结果数据而将测试结果数据做更有效率的利用，而轻易地达到上述的目的。 在参阅附图及随后描述的实施方式后，该
具有通常知识者便可了解本专利技术的目的，以及本专利技术的技术手段及实施方式。附图说明 为让本专利技术的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的详 细说明如下 图1是本专利技术的第一实施例的硬件装置测试系统的方块图； 图2A及图2B是分别为本专利技术的一实施例中，测试结果数据格式的示意图；以及 图3是本专利技术的第二实施例的硬件装置测试方法的流程图。 主要组件符号说明具体实施例方式请参照图l，是本专利技术的第一实施例的硬件装置测试系统1的方块图。硬件装置测 试系统1是用以测试一主机(未绘示)中的硬件装置10。硬件装置测试系统1包含数据 处理模块100、内存区块102、分析模块104以及通用异步收发传输器连接端口 106。主机在 进行开机程序时，主机所包含的各硬件装置将会执行一开机测试程序。在硬件装置10所对 应的开机测试程序开始执行后，数据处理模块100将撷取硬件装置10的多个测试结果数据ioi，并分别附加至少一标签于测试结果数据ioi，以形成测试结果数据ior。各测试结果数据101在本实施例中，是一数值。本实施例中的测试结果数据101是共包含三个数值，而附加的标签，是用以标示数值所代表的意义。举例来说，本实施例的三个数值，是分别代表硬件装置10的温度、电压及处理时间，则如图2A所示，是本专利技术的一实施例中，测试结果数据ior的格式的示意图。测试结果数据ior的第一字段是标签，而硬件装置io的温度、电压及处理时间分别以数值20、21、22代表，而第二字段的数值则表示温度值、电压值及处 理时间长度，分别为25度、5伏特及2秒钟。在另一实施例中，标签是可包含测试结果数据 101的意义以及数据的长度，如图2B所示，第一字段及第二字段是标签，其中第一字段是与 前一实施例中以数值表示意义的方式不同，而改为以字符串形式表示，temp代表温度，vol 代表电压，time代表时间。第二字段为了避免测试结果数据101'被读取时产生错误，因此 记录了数据的长度。如图2B所示，温度的数值是一 10位的数据长度，电压是一 6位的数据 长度，而时间为一 4位的数据长度。然而需注意的是，数值形式的标签，实质上将较字符串 形式的标签，所占的空间较小。 在数据处理模块100完成测试结果数据101的处理而形成测试结果数据101'后， 内存区块102将储存测试结果数据101'。内存区块102在本实施例中，是一非挥发性随机 存取内存(non-volatile random access memory ;NVRAM)。而在主机的开机测试程序完成 后，分析模块104根据各测试结果数据IOI'的标签分析测试结果数据101'，以产生一分析 结果103。分析模块104实质上为一内储于主机的应用程序，是可根据使用者的设定，由标 签来对测试结果数据101'进行筛选、比对等动作，以产生分析结果103。最后分析结果103 可由通用异步收发传输器连接端口 106进行输出，以供外部的除错模块或其它模块(未绘 示)使用。 上述的硬件装置测试系统，能够利用内存区块102储存测试结果数据101'，避免直接在开机测试程序中读取测试结果数据ior，而对硬件装置io的效能造成干扰而无法 正确地进行除错，并通过加上标签为测试结果数据ior做分类，而通过分析模块io4分析 1 :硬件装置测试系统 100 :数据处理模块 102 :内存区块 104 :分析模块10 :硬件装置101、101':测试结果数据103 :分析结果106 :通用异步收发传输器连接端口4测试结果数据ior而将测试结果数据ior做更有效率的利用。 本专利技术的第二实施例是一种硬件装置测试方法，用以测试一主机中的硬件装置。请参照图3，是本专利技术的第二实施例的硬件装置测试方法的流程图，硬件装置测试方法包含 下列步骤在步骤301，开始执行主机的开机测试程序；在步骤302，由硬件装置撷取多个测 试结果数据；在步骤303，分别附加至少一标签于测试结果数据；在步骤304，储存测试结果 数据于内存区块；以及在步骤305，开机测试程序完成后，根据各测试结果数据的标签分析 及显示测试结果数据。 虽然本专利技术已以一较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本专利技术，任何熟悉此 技术的人员，在不脱离本专利技术的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本专利技术的保 护范围当视后附的权利要求书所界定的范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种硬件装置测试方法，其特征在于，用以测试一主机中的一硬件装置，包含下列步骤：开始执行该主机的一开机测试程序；由该硬件装置撷取多个测试结果数据；分别附加至少一标签于该多个测试结果数据；储存该多个测试结果数据于一内存区块；以及在该开机测试程序完成后，根据各该多个测试结果数据的标签分析该多个测试结果数据，以产生一分析结果。

【技术特征摘要】
一种硬件装置测试方法，其特征在于，用以测试一主机中的一硬件装置，包含下列步骤开始执行该主机的一开机测试程序；由该硬件装置撷取多个测试结果数据；分别附加至少一标签于该多个测试结果数据；储存该多个测试结果数据于一内存区块；以及在该开机测试程序完成后，根据各该多个测试结果数据的标签分析该多个测试结果数据，以产生一分析结果。2. 根据权利要求1所述的硬件装置测试方法，其特征在于，该内存区块是一非挥发性 随机存取内存。3. 根据权利要求1所述的硬件装置测试方法，其特征在于，该多个测试结果数据分别 为一数值，该至少一标签是一数值或一字符串。4. 根据权利要求1所述的硬件装置测试方法，其特征在于，该分析该多个测试结果数 据的步骤是通过内储于该主机的一应用程序执行。5. 根据权利要求1所述的硬件装置测试方法，其特征在于，该分析结果是由一通用异 步收发传输器连接端口输出。6. —种硬件装置测...

【专利技术属性】
技术研发人员：简铭宏，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]