【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开要求于2022年10月27日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请no.10-2022-0140518的申请日的权益，该韩国专利申请的全部内容被包括在本公开中。本公开涉及薄膜温度及厚度测量装置以及使用该薄膜温度及厚度测量装置的测量方法，其可以在使用连续(in-line)方法进行聚合物薄膜的制造过程期间对所制造的薄膜的温度和厚度进行顺序地测量。
技术介绍
1、通常，多孔膜型聚合物薄膜被用作用于二次电池的分隔件。这种聚合物薄膜通常通过将借助于挤出机排出的聚合物树脂熔体模制成薄膜形式并且然后通过拉伸和热固定过程制造而成。
2、这种薄膜制造过程使用辊对辊结构的连续方法进行，并且制造出的结果为矩形分隔件片材的形式，并且然后其被切割成预定尺寸，以稍后用作分隔件基材。
3、优选的是，用作分隔件的聚合物薄膜在整个分隔件上具有均匀的厚度偏差，以提高产品产率。因此，在聚合物薄膜的挤出过程期间，需要通过测量薄膜的厚度来对所制造的薄膜的厚度均匀性进行控制。
4、在相关技术中，主要仅对聚合物薄膜的厚度进行测量，但是由于聚合物...
【技术保护点】
1.一种用于对挤出成型和涂覆成型的薄膜的温度和厚度进行测量的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述温度测量单元和所述厚度测量单元布置在与所述薄膜的输送方向相同的线上，以便能够在输送的薄膜的相同点处对薄膜的表面温度和厚度进行顺序地测量。
3.根据权利要求2所述的装置，其中，从所述薄膜的输送方向的上游到下游依次布置有所述厚度测量单元和所述温度测量单元。
4.根据权利要求2所述的装置，其中，从所述薄膜的所述输送方向的上游到下游依次布置有所述温度测量单元和所述厚度测量单元。
5.根据权利要求1所述的装置，...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于对挤出成型和涂覆成型的薄膜的温度和厚度进行测量的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述温度测量单元和所述厚度测量单元布置在与所述薄膜的输送方向相同的线上，以便能够在输送的薄膜的相同点处对薄膜的表面温度和厚度进行顺序地测量。
3.根据权利要求2所述的装置，其中，从所述薄膜的输送方向的上游到下游依次布置有所述厚度测量单元和所述温度测量单元。
4.根据权利要求2所述的装置，其中，从所述薄膜的所述输送方向的上游到下游依次布置有所述温度测量单元和所述厚度测量单元。
5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述厚度测量单元包括：
6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述移动板以沿着与所述导引轨道的长度方向交叉的方向能够往复运动的方式联接至所述导引轨道，并且所述移动板构造成对距所述旋转辊的外周缘表面的间隙距离进行调节。
7.根据权利要求5所述的装置，其中，所述第一支架以将所述移动板的第一铰接轴用作旋转中心沿着所述薄膜的输送方向能够旋转预定角度的方式联接，并且所述第一支架构造成对所述激光位移传感器的激光照射角度进行调节。
8.根据权利要求5所述的装置，其中，所述温度测量单元包括：
9.根据权利要求8所述的装置，其中，所述红外温度传感器以将所述第二支架的第...
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