【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体,具体涉及一种高亮度led芯片及其制备方法。
技术介绍
1、目前,现有的led芯片一般采用ito透明导电层和ag反射镜层组成的复合膜层来提高光的反射率,进而提高led芯片的亮度。但是,ito透明导电层不可避免地会吸收一部分光;ag反射镜层又无法覆盖所有的反射面,如mesa侧壁、iso侧壁等,不能将所有光反射至led芯片的出光面射出;光从量子阱层发出并经过不同膜层时会产生不同程度的全反射效应,也会导致光无法全部从led芯片的出光面发出……这些因素的存在,导致了现有的led芯片出光效率低,进而削弱了led芯片的亮度。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,本专利技术提供了一种高亮度led芯片及其制备方法,通过在外延层的四周设置延伸至衬底的第一沟槽,可以避免浪费外延层的发光面积,通过在第一沟槽、ito透明导电层和第二沟槽的表面设置增反膜层,可以有效提高光的反射效率,从而有效提高led芯片的亮度。
2、本专利技术提供了一种高亮度led芯片,包括衬
...【技术保护点】
1.一种高亮度LED芯片,其特征在于,包括衬底和设置在所述衬底上的外延层,所述外延层的四周成型有第一沟槽,所述外延层的中心区域成型有第二沟槽;所述外延层包括依次层叠在所述衬底上的N型GaN层、量子阱层和P型GaN层,所述第一沟槽从所述P型GaN层延伸至所述衬底,所述第二沟槽从所述P型GaN层延伸至所述N型GaN层内;
2.如权利要求1所述的高亮度LED芯片,其特征在于,所述第一沟槽露出的衬底区域为ISO台面,所述第一沟槽露出的外延层区域为ISO侧壁;所述第二沟槽露出的N型GaN层区域为MESA台面,所述第二沟槽露出的外延层区域为MESA侧壁;
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【技术特征摘要】
1.一种高亮度led芯片,其特征在于,包括衬底和设置在所述衬底上的外延层,所述外延层的四周成型有第一沟槽,所述外延层的中心区域成型有第二沟槽;所述外延层包括依次层叠在所述衬底上的n型gan层、量子阱层和p型gan层,所述第一沟槽从所述p型gan层延伸至所述衬底,所述第二沟槽从所述p型gan层延伸至所述n型gan层内;
2.如权利要求1所述的高亮度led芯片,其特征在于,所述第一沟槽露出的衬底区域为iso台面,所述第一沟槽露出的外延层区域为iso侧壁;所述第二沟槽露出的n型gan层区域为mesa台面,所述第二沟槽露出的外延层区域为mesa侧壁;
3.如权利要求1所述的高亮度led芯片,其特征在于,所述增反膜层由sio2单层、ti3o5单层、sio2-ti3o5叠层中的一种或多种组成;所述增反膜层的厚度为4000埃*n,n为自然数,n大于0。
4.如权利要求1所述的高亮度led芯片,其特征在于,所述ag反射镜层包括ag底层和设置在所述ag底层上的表层,所述ag底层与所述ito透明导电层、以及所述增反膜层相接,所述ag底层的厚度范围为1000埃...
【专利技术属性】
技术研发人员:范凯平,卢淑欣,陈慧秋,张春慧,
申请(专利权)人:佛山市国星半导体技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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