【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学频率梳，具体涉及一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统。
技术介绍
1、近年来，光学频率梳(以下简称“光梳”)技术因其高度稳定的特性而成为绝对光学频率计量、天文摄谱仪校准和精密测量等研究领域的重要工具。双光梳光谱学以其高分辨率、快速测量和宽光谱范围等优点而备受关注，是光梳最活跃的应用领域之一。双光梳光谱测量系统建立在两个重频略有差异的脉冲序列之上，其中一个脉冲序列编码光谱信息，结合另一个脉冲序列通过外差检测提取信息。在双光梳光谱测量中，两个脉冲序列的重频差直接决定了双光梳的射频梳齿间隔，从而影响信息采集速度。随着前沿应用的扩展，人们对双光梳光谱测量系统的快速采集需求不断增加。为了获得更大的重频差，在有限的光谱带宽内，通常需要提高双光梳光源的重频。特别地，相较于khz或mhz重频，高重频(>1ghz)的双光梳光谱测量系统具有同时兼顾高光谱分辨率和快速采集的特点，在分析光谱吸收特征和瞬态反应事件时更具优势，已成为光谱测量的最佳选择。
2、为了实现ghz高重频双光梳光谱测量系统，许多双光梳技术已经...
【技术保护点】
1.一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，包括双锁模光纤激光器(1)、光耦合器(2)、第一光电探测器(3)、高速示波器(4)、第二光电探测器(5)、第一低通滤波器(6)、电放大器(7)、信号发生器(8)、混频器(9)、第二低通滤波器(10)和比例积分微分控制器(11)；
2.根据权利要求1所述的一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，所述光耦合器(2)的两个输入端和输出端的分光比均为50：50。
3.根据权利要求1所述的一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，所述第一低通滤波器...
【技术特征摘要】
1.一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，包括双锁模光纤激光器(1)、光耦合器(2)、第一光电探测器(3)、高速示波器(4)、第二光电探测器(5)、第一低通滤波器(6)、电放大器(7)、信号发生器(8)、混频器(9)、第二低通滤波器(10)和比例积分微分控制器(11)；
2.根据权利要求1所述的一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，所述光耦合器(2)的两个输入端和输出端的分光比均为50：50。
3.根据权利要求1所述的一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，所述第一低通滤波器(6)的截止频率为1mhz至10mhz之间，以有效滤出双光纤光梳的重频差信号。
4.根据权利要求1所述的一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，所述第二低通滤波器(10)的截止频率为100khz，以有效滤出所述混频器(9)输出的差频信号。
5.根据权利要求1所述的一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统，其特征在于，所述双锁模光纤激光器(1)采用两个独立的线性谐振腔，每个线性谐振腔包括增益光纤(15)、半导体可饱和吸收镜(16)和介质膜(17)；
6.根据权利要求5所述的一种基于重频差锁定的高重频双...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。