一种硅碳负极材料、制备方法及基于它的负极极片和电化学装置制造方法及图纸

技术编号:42603603 阅读:142 留言:0更新日期:2024-09-03 18:14
本发明专利技术涉及电化学领域,具体涉及一种硅碳负极材料、制备方法及基于它的负极极片和电化学装置。其技术要点如下:多孔碳前驱体以及气相沉积多孔碳孔隙内的纳米硅颗粒;硅碳负极材料的XRD衍射图中,在2θ角为15°~40°范围内存在第一衍射峰,第一衍射峰的总面积为C;在2θ角为40°~60°范围内存在第二衍射峰,所述第二衍射峰的总面积为D,且0.65≤D/C≤0.95。本发明专利技术提供的硅碳负极材料及其制备方法,以及包含该材料的负极极片和电化学装置,通过制备工艺调整,限定扣式电池微分容差曲线的峰强比制备气相法硅碳负极材料,显著改善了电化学装置的能量密度以及循环性能。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电化学领域,具体涉及一种硅碳负极材料、制备方法及基于它的负极极片和电化学装置


技术介绍

1、近些年,电动汽车及便携式电子设备产业发展迅猛,对锂离子电池的需求量不断攀升,同时也对锂离子电池的能量密度、循环性能等提出了更高的要求。传统石墨负极材料理论比容量低(372mah/g),硅基材料比容量高达4200mah/g,是下一代电池的理想材料。但硅材料在脱嵌锂过程中会产生较大的体积膨胀,严重限制了硅基材料的应用。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种硅碳负极材料、制备方法及基于它的负极极片和电化学装置,解决硅材料在脱嵌锂过程中产生较大的体积膨胀的技术问题,同时提高电化学装置的能量密度和循环性能。

2、本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:

3、本专利技术提供的一种硅碳负极材料,包括:多孔碳前驱体以及气相沉积在多孔碳前驱体的孔隙内的纳米硅颗粒;硅碳负极材料的xrd衍射图中,在2θ角为15°~40°范围内存在第一衍射峰,第一衍射峰的总面积为c;在2θ角为40°~本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种硅碳负极材料,其特征在于,所述硅碳负极材料,包括:多孔碳前驱体以及气相沉积在多孔碳前驱体的孔隙内的纳米硅颗粒;所述硅碳负极材料的XRD衍射图中,在2θ角为15°~40°范围内存在第一衍射峰,第一衍射峰的总面积为C;在2θ角为40°~60°范围内存在第二衍射峰,所述第二衍射峰的总面积为D,且0.65≤D/C≤0.95。

2.根据权利要求1所述的一种硅碳负极材料,其特征在于,所述多孔碳前驱体DV50为n,所述硅碳负极材料DV50为N;则n和/或N,至少满足以下条件之一:3μm≤n≤10μm,3μm≤N≤10μm,(N-n)≤2μm。

3.根据权利要求1所述的一...

【技术特征摘要】

1.一种硅碳负极材料,其特征在于,所述硅碳负极材料,包括:多孔碳前驱体以及气相沉积在多孔碳前驱体的孔隙内的纳米硅颗粒;所述硅碳负极材料的xrd衍射图中,在2θ角为15°~40°范围内存在第一衍射峰,第一衍射峰的总面积为c;在2θ角为40°~60°范围内存在第二衍射峰,所述第二衍射峰的总面积为d,且0.65≤d/c≤0.95。

2.根据权利要求1所述的一种硅碳负极材料,其特征在于,所述多孔碳前驱体dv50为n,所述硅碳负极材料dv50为n;则n和/或n,至少满足以下条件之一:3μm≤n≤10μm,3μm≤n≤10μm,(n-n)≤2μm。

3.根据权利要求1所述的一种硅碳负极材料,其特征在于,所述硅碳负极材料的比表面积≤50m2g,硅的质量含量为30~65%。

4.根据权利要求1所述的一种硅碳负极材料,其特征在于,所述多孔碳前驱体材料的比表面积为,1200~2800m2/g,孔体积≥0.65cm3/g。

5.根据权利要求1~4任意一项所述的一种硅碳负极材料的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:将比表面积为1200~2800m2/g,dv50为3~10μm,孔体积≥0.65cm3/g的多孔碳前驱体置于气相沉积...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋成成廖群超江宏富姚倩楠陈冬李亚男
申请(专利权)人:江苏鑫华半导体科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1