测试控制电路和测试系统技术方案

本公开实施例提供了一种测试控制电路和测试系统，其中，测试控制电路包括：模式选择器，用于生成模式选择信号，模式选择信号指示一次测试过程中需要被测试的ICG的组数占所有ICG的组数的目标比例；种子发生器，用于生成与多组ICG分别对应的多个随机种子信号，每一随机种子信号指示对应的一组ICG被测试，且每一组ICG被测试的概率相同；粒度使能控制器，用于接收模式选择信号、至少一个第一使能信号和多个随机种子信号；对多个随机种子信号进行逻辑处理，生成至少一个初始使能信号；根据模式选择信号选择目标比例对应的至少一个初始使能信号或第一使能信号作为目标使能信号，利用目标使能信号控制需要被测试的至少一组ICG进行测试。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及半导体测试，尤其涉及一种测试控制电路和测试系统。

技术介绍

1、随着现代超大规模集成电路的发展，芯片的集成度越来越高。目前，采用可测试性设计(design for testability，dft)测试电路结构对规模较大的芯片进行测试时，由于在捕获阶段(capture阶段)所有的icgs同时被使能，使得待测逻辑电路中的所有寄存器会随时钟翻转而翻转，导致测试时功耗耗散和功耗峰值较高。

技术实现思路

1、本公开实施例提供了一种测试控制电路和测试系统。

2、第一方面，本公开实施例提供了一种时钟门控器的测试控制电路，所述测试控制电路与多组所述icg连接，每组所述icg包含若干个icg，所述测试控制电路包括：

3、模式选择器，用于生成模式选择信号；其中，所述模式选择信号指示一次测试过程中需要被测试的所述icg的组数占所有icg的组数的目标比例；

4、种子发生器，用于生成与所述多组icg分别对应的多个随机种子信号，每一所述随机种子信号指示对应的一组所述icg被测试，且每一组所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种时钟门控器(ICG)的测试控制电路，所述测试控制电路与多组所述ICG连接，每组所述ICG包含若干个ICG，所述测试控制电路包括：

2.根据权利要求1所述的测试控制电路，其中，

3.根据权利要求2所述的测试控制电路，其中，所述粒度使能控制器包括逻辑处理电路和第二选择器；

4.根据权利要求1至3任一项所述的测试控制电路，其中，所述测试控制电路还包括：

5.根据权利要求4所述的测试控制电路，其中，所述掩模控制电路包括译码电路和异或门；

6.根据权利要求5所述的测试控制电路，其中，

7.根据权利要求5或6所述的测试控...

【技术特征摘要】

1.一种时钟门控器(icg)的测试控制电路，所述测试控制电路与多组所述icg连接，每组所述icg包含若干个icg，所述测试控制电路包括：

2.根据权利要求1所述的测试控制电路，其中，

3.根据权利要求2所述的测试控制电路，其中，所述粒度使能控制器包括逻辑处理电路和第二选择器；

4.根据权利要求1至3任一项所述的测试控制电路，其中，所述测试控制电路还包括：

5.根据权利要求4所述的测试控制电路，其中，所述掩...

【专利技术属性】
技术研发人员：石雨豪，刘九维，赵军红，
申请(专利权)人：鼎道智芯上海半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：