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本公开实施例提供了一种测试控制电路和测试系统，其中，测试控制电路包括：模式选择器，用于生成模式选择信号，模式选择信号指示一次测试过程中需要被测试的ICG的组数占所有ICG的组数的目标比例；种子发生器，用于生成与多组ICG分别对应的多个随机种...
该专利属于鼎道智芯（上海）半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鼎道智芯（上海）半导体有限公司授权不得商用。

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