【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，尤其涉及一种dft信号数据处理方法、dft设计方法及dft验证方法。
技术介绍
1、当前随着芯片上集成的器件越来越多，soc芯片的设计复杂性急剧增加，导致芯片缺陷出现的可能性随之变大。对于量产芯片，需要通过芯片测试筛选出存在缺陷的芯片，而传统芯片测试需要较高测试成本与测试时间。目前，在芯片设计过程就已经开始考虑芯片测试，也就是加入dft(design for test)可测性设计流程。
2、dft流程在以cpu、gpu等为代表的单片超大规模集成电路中得以广泛应用。使用dft流程的目的在于找出芯片的固定故障、测试芯片的实际性能，从而便于进行量产筛片。目前dft流程的测试结构主要包括：扫描链测试、边界扫描测试、内存内建自测试、模拟测试等。
3、dft设计的目的是将某些特殊结构在芯片设计阶段植入电路，以便芯片流片后进行测试，以检测制造工艺过程中出现的设计缺陷。dft验证的目的是检查设计中的错误，确保设计符合其设计规范和所期望的功能。
4、然而，目前dft设计/验证流程存在明显的缺点，
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【技术保护点】
1.一种DFT信号数据处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的DFT信号数据处理方法，其特征在于，所述将输入的DFT信号总表拆分为不同表格，生成不同的输入数据文件具体包括：
3.如权利要求2所述的DFT信号数据处理方法，其特征在于，DFT脚本对DFT设计模块的输入文件夹进行数据处理操作具体包括：
4.如权利要求2所述的DFT信号数据处理方法，其特征在于，DFT脚本对DFT验证模块的输入文件夹进行数据处理操作具体包括：
5.一种基于权利要求1-3任意一项所述的DFT信号数据处理方法的DFT设计方法，其特...
【技术特征摘要】
1.一种dft信号数据处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的dft信号数据处理方法，其特征在于，所述将输入的dft信号总表拆分为不同表格，生成不同的输入数据文件具体包括：
3.如权利要求2所述的dft信号数据处理方法，其特征在于，dft脚本对dft设计模块的输入文件夹进行数据处理操作具体包括：
4.如权利要求2所述的dft信号数据处理方法，其特征在于，dft脚本对dft验证模块的输入文件夹进行数据处理操作具体包括：
5.一种基于权利要求1-3任意一项所述的dft信号数据处理方法的dft设计方法，其特征在于，所述方法包括：
6.如权利要求5所述的dft设计方法，其特征在于，所述信号使用信息包括：测试模式种类对应下的dft复用信号名、确定dft复用信号值、io不复用信号名、数模接口不复用信号名...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗一牛，马丙场，吴忠洁，
申请(专利权)人：上海灵动微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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