【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及igbt老化,具体涉及一种基于风冷散热式的多功能igbt老化实验平台。
技术介绍
1、igbt是功率半导体器件之一,也是电力电子设备的核心器件,其可靠性决定电力电子设备的安全可靠运行;生产后的igbt需要经过老化实验来检测其可靠性。
2、目前,老化实验可通过多种途径进行测试,例如功率循环老化实验或者温度循环老化实验;进行功率循环老化实验时,将igbt模块接入电路后接通加热电源;进行温度循环老化实验时需要将igbt模块放入高低温实验箱。
3、但是,通过一种老化实验方法检测出来的结果仅能从单一角度检测出igbt的可靠性,不具有代表性;但是使用多种老化实验方法就需要用多台老化实验平台,价格昂贵,且占用空间大。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种基于风冷散热式的多功能igbt老化实验平台,解决以下技术问题:
2、如何能够更全面的证明igbt的可靠性的同时减少占用空间。
3、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现:
< ...【技术保护点】
1.一种基于风冷散热式的多功能IGBT老化实验平台,包括待测IGBT模块组,其特征在于,所述老化实验平台还包括移动架;所述移动架上设置有:
2.根据权利要求1所述的一种基于风冷散热式的多功能IGBT老化实验平台,其特征在于,所述主电路实验系统包括供电电源(5)、与供电电源(5)连接的IGBT驱动电路板(2);所述待测IGBT模块组与所述IGBT驱动电路板(2)经螺栓固定连接;
3.根据权利要求1所述的一种基于风冷散热式的多功能IGBT老化实验平台,其特征在于,所述移动架包括四个滑轨、多个三角支架、多个支撑板和四个滑轮;滑轮滚动设置在滑轨的底部;
...【技术特征摘要】
1.一种基于风冷散热式的多功能igbt老化实验平台,包括待测igbt模块组,其特征在于,所述老化实验平台还包括移动架;所述移动架上设置有:
2.根据权利要求1所述的一种基于风冷散热式的多功能igbt老化实验平台,其特征在于,所述主电路实验系统包括供电电源(5)、与供电电源(5)连接的igbt驱动电路板(2);所述待测igbt模块组与所述igbt驱动电路板(2)经螺栓固定连接;
3.根据权利要求1所述的一种基于风冷散热式的多功能igbt老化实验平台,其特征在于,所述移动架包括四个滑轨、多个三角支架、多个支撑板和四个滑轮;滑轮滚动设置在滑轨的底部;所述支撑板固定设置在三角支架上;各所述滑轨与三角支架经螺栓固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种基于风冷散热式的多功能ig...
【专利技术属性】
技术研发人员:王重马,许涛,段惠敏,张胜,卢文武,绍兴星,殷创业,
申请(专利权)人:合肥大学,
类型:发明
国别省市:
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