【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学检测分析，尤其涉及一种物镜后焦面对准方法及装置。
技术介绍
1、光子晶体和超材料是一类具有周期性结构的光学材料，其特点在于能够通过调节其周期性结构来控制光的传播和性质。自20世纪90年代提出以来，光子晶体的研究引起了广泛关注，并在光子学、光电子学等领域展现出了巨大的潜力。近年来，随着纳米技术的发展和制备工艺的不断进步，光子晶体的研究取得了显著进展，成功实现了光的波导、光子晶体激光器、光子晶体光纤等器件的构建，并在光通信、传感、光子计算等领域取得了重要突破。
2、角分辨光谱测量系统是表征光子晶体和超材料的重要装置，用于获取光子晶体和超材料的能带结构。目前，市面上已经开发出基于傅里叶变换的角分辨光谱测量装置，其相较于传统的旋转探测器或样品台的角分辨光谱测量装置具有更高的检测效率和更小的体积，但其检测精度和准确性严格依赖于物镜后焦面的对准情况，存在调试和校准困难等问题。
3、因此，需要一种物镜后焦面对准方法及装置，以解决或至少部分解决上述问题。
技术实现思路
...【技术保护点】
1.一种物镜后焦面对准方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的物镜后焦面对准方法，其特征在于，将所述相机获取的影像与所述标准校准图像进行比较，包括如下步骤：将所述相机采集的影像进行灰度解析，生成影像灰度矩阵；将标准校准图像进行灰度解析，生成标准灰度矩阵；将影像灰度矩阵与标准灰度矩阵进行相关系数计算；计算出的相关系数大于等于设定值时，认定所述相机获取的影像与所述标准校准图像的相似度大于等于设定值，完成物镜后焦面的对准。
3.根据权利要求1所述的物镜后焦面对准方法，其特征在于，包括如下步骤：沿光轴方向移动所述物镜或所述透镜，通过所...
【技术特征摘要】
1.一种物镜后焦面对准方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的物镜后焦面对准方法，其特征在于，将所述相机获取的影像与所述标准校准图像进行比较，包括如下步骤：将所述相机采集的影像进行灰度解析，生成影像灰度矩阵；将标准校准图像进行灰度解析，生成标准灰度矩阵；将影像灰度矩阵与标准灰度矩阵进行相关系数计算；计算出的相关系数大于等于设定值时，认定所述相机获取的影像与所述标准校准图像的相似度大于等于设定值，完成物镜后焦面的对准。
3.根据权利要求1所述的物镜后焦面对准方法，其特征在于，包括如下步骤：沿光轴方向移动所述物镜或所述透镜，通过所述相机观察所述漫散射屏上的影像，直至所述漫散射屏上呈现清晰的干涉条纹影像，停止移动所述物镜或所述透镜，通过所述相机获取所述漫散射屏上的影像。
4.根据权利要求1所述的物镜后焦面对准方法，其特征在于，包括如下步骤：沿光轴方向移动所述漫散射屏，通过所述相机观察所述漫散射屏上的影像，直至所述漫散射屏上呈现清晰的干涉条纹影像，停止移动所述漫散射屏，通过所述相机获取所述漫散射屏上的影像。
5.根据权利要求1所述的物镜后焦面对准方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊敏，
申请(专利权)人：上海默乐光检科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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