放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质制造方法及图纸

技术编号:42491750 阅读:18 留言:0更新日期:2024-08-21 13:08
本公开提供了一种放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质,该方法包括:获取多个已知核素的本底能谱,其中,本底能谱是放射性探测器对多个已知核素进行探测得到的;对本底能谱进行差分处理,得到道址‑差分图,其中,道址‑差分图包括从多个全能峰信息中确定的多个有效峰信息;根据道址‑差分图确定目标系数,其中,目标系数表征初始能量道址函数式中的一个刻度系数;根据道址‑差分图和初始能量道址函数式,确定目标能量道址函数式,其中,目标能量道址函数式表征放射性探测器的能量刻度。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及环境监测领域,具体地涉及一种放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备、介质和程序产品。


技术介绍

1、辐射环境监测是环境监测的重要组成部分,也是辐射环境管理的基础,对环境放射性污染的防治也是公众所关心的热点之一。为了保证探测结果的准确性就需要定期对探测器系统进行能量刻度。

2、能量刻度时通常利用常见探测器设备对环境样品中γ放射核素进行探测测量,可以获得该样品的γ能谱信息,即光子计数与道址之间的关系,进而根据能量与道址之间的二次非线性关系对探测器进行能量刻度。然而受周围环境条件变化以及系统自身影响,需要定期对探测器系统进行能量刻度,以保证探测器的探测结果的准确性。


技术实现思路

1、鉴于上述问题,本公开提供了提高放射性探测器的能量刻度校正速度的放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备、介质和程序产品。

2、根据本公开的第一个方面,提供了一种放射性探测器的能量刻度确定方法,包括:

3、获取多个已知核素的本底能谱,其中,所述本底能谱是所述放射性探测器对多个所述已知核本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种放射性探测器的能量刻度确定方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述根据所述道址-差分图确定目标系数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述根据多个所述目标区间,确定所述目标系数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述根据多个所述全能峰加权系数和多个全能峰信息的差分系数,得到一个初始权重,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述差分处理包括二阶差分处理,所述差分系数包括二阶差分系数。

6.根据权利要求3所述的方法,其中,所述基于预设筛选规则,根据多个所述初始权重,确定目标系数,包括...

【技术特征摘要】

1.一种放射性探测器的能量刻度确定方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述根据所述道址-差分图确定目标系数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述根据多个所述目标区间,确定所述目标系数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述根据多个所述全能峰加权系数和多个全能峰信息的差分系数,得到一个初始权重,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述差分处理包括二阶差分处理,所述差分系数包括二阶差分系数。

6.根据权利要求3所述的方法,其中,所述基于预设筛选规则,根据多个所述初始权重,确定目标系数,包括:

7.根据权利要求2所述的方法,其中,所述根据所述道址-差分图和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:靳增雪赵崑吴瑶胡春煊李玉兰张彤
申请(专利权)人:同方威视科技北京有限公司
类型:发明
国别省市:

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