一种Micro LED光分布测量方法技术

本发明专利技术公开了一种Micro LED光分布测量方法，包括：点亮Micro LED芯片；光接收装置沿预设轨迹移动，并在不同角度处收集Micro LED芯片发出的光，传递至检测装置；预设轨迹是以Micro LED芯片为圆心的半圆形的圆弧，光接收装置包括光接收光纤，光纤的前端正对Micro LED芯片，后端接入检测装置；检测装置测量Micro LED芯片在不同角度下的发光强度。本发明专利技术采用光接收装置绕发光芯片的方式完成发光芯片的光分布测量，可以便于集成其他测试设备，提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及发光芯片测试，更具体地，涉及一种micro led光分布测量方法。

技术介绍

1、小尺寸的发光芯片，例如微米级的micro led芯片，具有尺寸小、集成度高和自发光等特点。与lcd、oled相比，在亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面优势明显。然而这些发光芯片在走向量产过程中还有很多技术难点需要克服，其中随着尺寸越来也小，发光效率及发光分布是一种重要的研究课题。在前期的研发过程中，通过测量分析芯片的发光分布可以及时调整工艺，提升发光芯片的发光效率和改善发光的光型。

2、图1示出了现有技术中的一种micro led芯片光分布测量装置，其工作原理为固定测量模块10，使其正对样品模块20，样品模块20夹持样品，并可以带动样品旋转，在其水平转台221旋转时可以测量夹持样品的光分布。但是，由于待测micro led芯片的自身转动，导致该现有技术难以进一步集成其他检测。

3、现有技术：cn112378628a，光空间分布测量系统及方法。

技术实现思路

1、针本文档来自技高网...

【技术保护点】

1. 一种Micro LED光分布测量方法，包括：

2. 如权利要求1所述的Micro LED光分布测量方法，其特征在于：

3. 如权利要求2所述的Micro LED光分布测量方法，其特征在于：

4. 如权利要求3所述的Micro LED光分布测量方法，其特征在于：

5. 如权利要求4所述的Micro LED光分布测量方法，其特征在于：

6. 如权利要求5所述的Micro LED光分布测量方法，其特征在于：

7. 如权利要求6所述的Micro LED光分布测量方法，其特征在于：

8. 如权利要求3所述的M...

【技术特征摘要】

1. 一种micro led光分布测量方法，包括：

2. 如权利要求1所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

3. 如权利要求2所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

4. 如权利要求3所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

5. 如权利要求4所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

6. 如权利要求5所述的micro led光分布测量方...

【专利技术属性】
技术研发人员：江宝焜，郑水锋，纪伟，李建平，洪浩，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：