System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种膜电极瑕疵检测装置及其应用方法制造方法及图纸_技高网

一种膜电极瑕疵检测装置及其应用方法制造方法及图纸

技术编号:42307905 阅读:19 留言:0更新日期:2024-08-14 15:53
本申请提出了一种膜电极瑕疵检测装置及其应用方法,通过在装置中设置支撑部、主控模块、用于放置膜电极的盖板组件、用于对盖板组件进行安装膜电极处理的开盖组件、用于运输盖板组件的第一轨道组件、以及用于对盖板组件中的膜电极进行检测的检测机构,主控模块分别电性连接盖板组件、开盖组件及检测机构,以实现对膜电极的瑕疵检测。使得盖板组件可以通过沿第一轨道组件运动实现安装膜电极以及通过检测机构对膜电极进行瑕疵检测的功能,进一步实现了对于膜电极的全自动化检测流程,无须人工手动检测,能够有效节省膜电极的检测时间,提高膜电极瑕疵检测的准确度和速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及膜电极检测领域,特别涉及一种膜电极瑕疵检测装置及其应用方法


技术介绍

1、膜电极是一种用于电化学反应的设备,由电极材料和离子交换膜组成,广泛应用于燃料电池、电解水制氢等领域。其原理是通过离子交换膜将电解质中的离子分离,并在电极催化层上发生氧化还原反应,从而产生电流。膜电极具有高效率、可控性和稳定性,能实现高效的能量转换,并且环保性强,可以利用可再生资源进行能量转换,减少对化石燃料的依赖和环境污染。

2、在膜电极的生产过程中,包括对其进行瑕疵检测的流程,传统的检测方法通常是通过人工使用显微镜对每一膜电极进行人工检测,其检测效率低,耗费资源多,由于采用人工检测,往往出现不可避免的误差或疏漏。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提出了一种膜电极瑕疵检测装置及其应用方法,具体方案如下:

2、一种膜电极瑕疵检测装置,包括:支撑部、主控模块、用于放置膜电极的盖板组件、用于对盖板组件进行安装膜电极处理的开盖组件、用于运输盖板组件的第一轨道组件、以及用于对盖板组件中的膜电极进行检测的检测机构。

3、支撑部上设置有用于对盖板组件中的膜电极进行安装的第一区域及用于检测膜电极的第二区域。开盖组件设置在支撑部上,以对位于第一区域的盖板组件进行安装膜电极的处理。

4、其中,第一轨道组件一端位于第一区域,另一端位于第二区域;盖板组件可滑动的连接在第一轨道组件上,以通过第一轨道组件在第一区域与第二区域之间切换。检测机构设置在支撑部上对应第二区域的位置,以对位于第二区域盖板组件中的膜电极进行检测。主控模块分别电性连接盖板组件、开盖组件及检测机构,以实现对膜电极的瑕疵检测。

5、在一些具体实施例中,检测机构包括至少两个;其中一个检测机构用于检测盖板组件中膜电极的其中一侧面;另一检测机构用于检测盖板组件中膜电极的另一侧面;所有的检测机构均连接主控模块。

6、在一些具体实施例中,检测机构朝向盖板组件中膜电极的其中一侧面设置;

7、第二区域远离第一区域的一侧还设置有翻转装置,翻转装置用于调整盖板组件的角度,以使得盖板组件的一个侧面朝向检测机构切换到盖板组件的另一侧面朝向检测机构。

8、在一些具体实施例中,翻转装置包括至少一对相对设置的旋转台;旋转台相对的一侧设置有受旋转台驱动的夹持定位组件,夹持定位块上设置有配合盖板组件的凸起和/或凹槽。夹持定位组件通过凸起和/或凹槽夹持盖板组件,并在旋转台的旋转下带动盖板组件旋转。

9、在一些具体实施例中,还包括顶升组件。其中,顶升组件包括:升降柱和升降气缸,升降气缸驱动连接升降柱。升降柱设置在第二区域,用于对盖板组件或翻转装置进行升降处理,以使翻转装置的夹持定位组件夹持盖板组件。

10、在一个实际应用过程中,升降柱设置在第二区域的第一轨道之间,同时也位于翻转装置中相对设置的旋转台之间。当盖板组件沿第一轨道移动至升降柱所在区域时,升降柱上升,以将盖板组件进行抬升,当盖板组件被顶升至对应翻转装置的旋转台的高度时,旋转台驱动夹持定位组件,以使夹持定位组件中的凸起和/或凹槽能够与盖板组件的侧边相吻合,夹持定位块将盖板组件夹起,旋转台转动180度,以带动所夹持的盖板组件旋转180度,使得盖板组件中膜电极还未被检测的另一面转向朝向检测机构所在的一面。翻转装置将盖板组件翻转后,将盖板组件放回升降柱上,升降柱进一步下降带动盖板组件回到第一轨道上,以使检测机构可以对翻转后的盖板组件中的膜电极进行检测。

11、需要说明的是,本申请并没有限定第一轨道组件与支撑部之间的角度关系,第一轨道组件可以是平行于支持部所在平面设置,也可以是部分或全部相对于支撑部所在平面倾斜,与支撑部所在平面之间存在夹角的。在一个具体实施例中,也可以通过第一轨道组件本身相对于支撑部所在平面的倾斜来对盖板组件进行抬升。

12、在一些具体实施例中,检测机构包括设置在第二区域中第一轨道组件上的支撑架、悬挂架、线扫相机组件和线扫光源组件,其中支撑架上设置有第三轨道。其中线扫相机组件滑动连接在第三轨道上,并电性连接所述主控模块。

13、悬挂架一端可滑动的连接在第三轨道上,另一端设置有至少两层悬挂结构,每层悬挂结构上连接有多个线扫光源组件。

14、在实际应用中,线扫相机组件沿第三轨道滑动,以对盖板组件中的膜电极进行逐行拍摄,悬挂架可以随着线扫相机组件滑动而滑动,以使悬挂结构上的线扫光源组件能够为线扫相机组件的拍摄提供足够的光源。线扫相机组件进一步将逐行拍摄所接收得到的像素数据进行合成得到完整的图像,由于线扫相机的每个传感器捕获的像素数目与图像的宽度成正比,线扫相机能够产生非常高分辨率的图像。进一步的,线扫相机组件将获得的图像上传至主控模块中,主控模块将所得到的拍摄图像与预存储的标准膜电极的图像模板进行比对,判断拍摄的膜电极的这一侧表面是否存在有异于标准膜电极表面图像模板的瑕疵缺陷,若实际获取检测图像中出现明显差异,则标记该膜电极为不合格品,并将膜电极表面上的所有瑕疵缺陷进行统计。

15、在一些具体实施例中,盖板组件包括上盖板和下盖板;上盖板和下盖板用于连接以形成容纳膜电极的容纳空间;上盖板和下盖板两者对应膜电极的区域透明。在实际应用中,上盖板和下盖板为一种高透玻璃,通过采用高透玻璃,使得检测机构中的线扫相机以及线扫光源可以更好地配合以得到高质量的拍摄照片。

16、开盖组件包括第二轨道组件和滑动连接在第二轨道组件上的夹具件;夹具件电性连接主控模块。

17、第二轨道组件上包括与第一轨道组件在第一区域部分重合的重合区域,第二轨道组件的重合区域所在平面高于第一轨道组件所在平面。

18、夹具件控制位于重合区域的盖板组件的上盖板与下盖板之间在连接状态与分离状态之间切换。

19、第二方面,提出了一种膜电极瑕疵检测装置的应用方法,应用于前述技术方案中的任一种膜电极瑕疵检测装置,包括:

20、通过主控模块控制开盖组件在第一区域开启盖板组件,将膜电极安装在盖板组件中,且控制开盖组件闭合盖板组件;

21、通过主控模块控制携带膜电极的盖板组件沿第一轨道组件从第一区域移动到第二区域;

22、通过检测机构对移动到第二区域的盖板组件中的膜电极进行检测,获得对于膜电极的检测信息;

23、通过主控模块获取检测机构检测得到的膜电极的检测信息,完成对膜电极的瑕疵检测。

24、在一些具体实施例中,若检测机构的数量包括至少两个,通过检测机构对移动到第二区域的盖板组件中的膜电极进行检测包括:在第二区域中,通过一个检测机构对移动到第二区域的盖板组件的一侧进行膜电极的瑕疵检测;同时通过另一检测机构对移动到第二区域的盖板组件的另一侧进行膜电极的瑕疵检测;

25、若检测机构的数量包括一个,且膜电极瑕疵检测装置还包括:翻转装置;通过检测机构对移动到第二区域的盖板组件中的膜电极进行检测,包括:

26、在第二区域本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,包括:支撑部、主控模块、用于放置膜电极的盖板组件、用于对盖板组件进行安装膜电极处理的开盖组件、用于运输所述盖板组件的第一轨道组件、以及用于对所述盖板组件中的所述膜电极进行检测的检测机构;

2.根据权利要求1所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于, 所述检测机构包括至少两个;其中一个所述检测机构用于检测所述盖板组件中所述膜电极的其中一侧面;另一所述检测机构用于检测所述盖板组件中所述膜电极的另一侧面;

3.根据权利要求1所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,所述检测机构朝向所述盖板组件中所述膜电极的其中一侧面设置;

4.根据权利要求3所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,所述翻转装置包括至少一对相对设置的旋转台;所述旋转台相对的一侧设置有受所述旋转台驱动的夹持定位组件,所述夹持定位块上设置有配合所述盖板组件的凸起和/或凹槽;

5.根据权利要求4所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,还包括顶升组件;

6.根据权利要求1-3中任意一项所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,所述检测机构包括设置在所述第二区域中所述第一轨道组件上的支撑架、悬挂架、线扫相机组件和线扫光源组件;所述支撑架上设置有第三轨道;所述线扫相机组件滑动连接在所述第三轨道上,并电性连接所述主控模块;

7.根据权利要求1所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于, 所述盖板组件包括上盖板和下盖板;所述上盖板和所述下盖板用于连接以形成容纳所述膜电极的容纳空间;所述上盖板和所述下盖板两者对应所述膜电极的区域透明;

8.一种膜电极瑕疵检测装置的应用方法,其特征在于,应用于权利要求1-7中任一项所述的一种膜电极瑕疵检测装置,包括:

9.根据权利要求8所述的一种膜电极瑕疵检测装置的应用方法,其特征在于,若所述检测机构的数量包括至少两个,所述通过所述检测机构对移动到所述第二区域的所述盖板组件中的所述膜电极进行检测包括:

10.根据权利要求9所述的一种膜电极瑕疵检测装置的应用方法,其特征在于,在控制所述检测机构对所述盖板组件中膜电极的另一侧面进行检测之后,还包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,包括:支撑部、主控模块、用于放置膜电极的盖板组件、用于对盖板组件进行安装膜电极处理的开盖组件、用于运输所述盖板组件的第一轨道组件、以及用于对所述盖板组件中的所述膜电极进行检测的检测机构;

2.根据权利要求1所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于, 所述检测机构包括至少两个;其中一个所述检测机构用于检测所述盖板组件中所述膜电极的其中一侧面;另一所述检测机构用于检测所述盖板组件中所述膜电极的另一侧面;

3.根据权利要求1所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,所述检测机构朝向所述盖板组件中所述膜电极的其中一侧面设置;

4.根据权利要求3所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,所述翻转装置包括至少一对相对设置的旋转台;所述旋转台相对的一侧设置有受所述旋转台驱动的夹持定位组件,所述夹持定位块上设置有配合所述盖板组件的凸起和/或凹槽;

5.根据权利要求4所述的一种膜电极瑕疵检测装置,其特征在于,还包括顶升组件;

6.根据权利要求1-3中任意...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁维雷文平张俊涛
申请(专利权)人:深圳市铂纳特斯智能装备股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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