【技术实现步骤摘要】
本技术属于单晶衍射测试，具体涉及一种电子结构测试用的原位电场施加装置。
技术介绍
1、在进行电子结构测试时，一般采用x射线光源对单个晶体进行照射得到单个晶体的相关光学性能参数，此种测试能够获得的性能参数比较单一。
技术实现思路
1、为解决上述
技术介绍
中提出的问题，本技术提供了一种电子结构测试用的原位电场施加装置，具有设置灵活、能够获得多项性能参数的特点。
2、为实现上述目的，本技术提供了一种电子结构测试用的原位电场施加装置，包括：用于向待测晶体供应冷却气体的气体管道，用于接收和显示待测晶体衍射测试结果的探测器，用于产生光源的x射线发生器，以及用于放置待测晶体的测角仪，所述待测晶体通过载晶件置于测角仪上，所述载晶件为两根金属丝。
3、作为上述技术方案的进一步描述：所述载晶件还外接有电源。
4、作为上述技术方案的进一步描述：所述载晶件是两根钨丝。
5、作为上述技术方案的进一步描述：所述载晶件设于载晶台靠近气体管道一侧的端部，通过载晶紧固件与载晶台
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【技术保护点】
1.一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，所述载晶件(164)还外接有电源(18)。
3.根据权利要求2所述的一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，所述载晶件(164)是两根钨丝。
4.根据权利要求1至3任一项所述的一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，所述载晶件(164)设于载晶台(162)靠近气体管道(111)一侧的端部，通过载晶紧固件(163)与载晶台(162)连接。
5.根据权利要求4所述的一种电...
【技术特征摘要】
1.一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，所述载晶件(164)还外接有电源(18)。
3.根据权利要求2所述的一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，所述载晶件(164)是两根钨丝。
4.根据权利要求1至3任一项所述的一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，所述载晶件(164)设于载晶台(162)靠近气体管道(111)一侧的端部，通过载晶紧固件(163)与载晶台(162)连接。
5.根据权利要求4所述的一种电子结构测试用的原位电场施加装置，其特征在于，所述测角仪(16)通过底座(165...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜小明，郭国聪，
申请(专利权)人：中国科学院福建物质结构研究所，
类型：新型
国别省市：
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