按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:42244963 阅读:19 留言:0更新日期:2024-08-02 13:55
本公开提供一种按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:获取被测产品的膜片的多个按键对应的电容值变化量,其中,每个按键对应一个按键标识,电容值变化量与按键标识关联;根据按键标识关联的电容值变化量及预设的触摸门限范围,确定按键标识对应的按键的触摸状态;根据多个按键中每个按键的触摸状态,确定所述每个按键对应的按键测试结果;在预设的触摸测试界面中展示每个按键对应的按键测试结果。本方案通过为膜片的每个按键设置唯一对应的按键标识,获取的电容值变化量与按键标识关联,避免了按键之间的电容值串扰,从而能够同时对膜片的多个按键进行触摸测试,提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及膜片测试,尤其涉及一种按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质


技术介绍

1、对于膜片上包含多个按键的电子产品,在对这类电子产品进行触摸测试时,为了避免同时触摸多个按键导致的触摸误判,需要采用手指逐个点击按键区域的方法来测试,导致这类电子产品的触摸测试效率低。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题,本公开实施例提供了一种按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质。

2、根据本公开的一方面,提供了一种按键触摸测试方法,包括:

3、获取被测产品的膜片的多个按键对应的电容值变化量,其中,每个按键对应一个按键标识,所述电容值变化量与所述按键标识关联;

4、根据所述按键标识关联的电容值变化量及预设的触摸门限范围,确定所述按键标识对应的按键的触摸状态;

5、根据所述多个按键中每个按键的触摸状态,确定所述每个按键对应的按键测试结果;

6、在预设的触摸测试界面中展示所述每个按键对应的按键测试结果。p>

7、根据本本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种按键触摸测试方法,其中,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的按键触摸测试方法,其中,所述触摸测试界面中包括多个按键图标,一个按键图标对应一个按键,所述按键图标上标注有对应按键的按键标识;

3.如权利要求2所述的按键触摸测试方法,其中,所述触摸测试界面中还包括测试结论图标,所述测试结论图标用于指示被测产品是否通过触摸测试;

4.如权利要求1所述的按键触摸测试方法,其中,所述根据所述按键标识关联的所述电容值变化量及预设的触摸门限范围,确定所述按键标识对应的按键的触摸状态,包括:

5.如权利要求1-4任一项所述的按键触摸测试方法,其中,...

【技术特征摘要】

1.一种按键触摸测试方法,其中,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的按键触摸测试方法,其中,所述触摸测试界面中包括多个按键图标,一个按键图标对应一个按键,所述按键图标上标注有对应按键的按键标识;

3.如权利要求2所述的按键触摸测试方法,其中,所述触摸测试界面中还包括测试结论图标,所述测试结论图标用于指示被测产品是否通过触摸测试;

4.如权利要求1所述的按键触摸测试方法,其中,所述根据所述按键标识关联的所述电容值变化量及预设的触摸门限范围,确定所述按键标识对应的按键的触摸状态,包括:

5.如权利要求1-4任一项所述的按键触摸测试方法,其中,所述膜片的每个按键通过单独的导线引出并集中在膜片顶部的导电触片上,其中...

【专利技术属性】
技术研发人员:李松海
申请(专利权)人:深圳市星桐科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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