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本公开提供一种按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取被测产品的膜片的多个按键对应的电容值变化量，其中，每个按键对应一个按键标识，电容值变化量与按键标识关联；根据按键标识关联的电容值变化量及预设的触摸门限范围，确定按键标识...
该专利属于深圳市星桐科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市星桐科技有限公司授权不得商用。

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