器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

技术编号:42208044 阅读:10 留言:0更新日期:2024-07-30 18:51
本公开提供一种器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备,其中,所述方法包括:获取访问信息,其中,所述访问信息中包括至少一个电子元器件访问节点的错误信息,所述访问节点为访问协议中的节点;依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态。通过获取每个电子元器件中每个访问节点的错误信息,可以在电子元器件访问发生错误时,快速准确的确定产生访问错误的电子元器件及对应的错误信息,不再需要人工对同类型电子元器件进行逐一排查,提高了对电子元器件的状态监测效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及嵌入式,尤其涉及一种器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备


技术介绍

1、随着嵌入式技术的快速发展,嵌入式设备的规模也在不断扩展,相应的,嵌入式设备的拓展连接和控制器件的数量也在不断增加。然而,随着嵌入式设备中同类器件数量的增加,当嵌入式设备中某一器件发生访问故障时,对故障器件的定位也变得越来越困难,从而导致对访问器件的效率比较低的问题。

2、现有技术中,在嵌入式设备中的器件发生错误或者异常情况时,服务器只会接收到器件返回的错误码或者错误描述等信息,这类信息是根据器件类型确定的,也就是说,同一类型的器件发生错误时,只会返回一个错误码。但是在嵌入式设备中存在多个同类型器件时,根据错误码无法确定具体发生错误的器件信息,只能依靠于人工排查和试错同类型的所有器件,而人工排查又存在一定的局限性,会出现对器件故障判断失误的情况,从而导致对器件排查的效率和准确性都比较低的问题。

3、针对上述排查器件故障原因的效率比较低的问题,目前尚未存在良好的解决方案。


技术实现思路

1、有鉴于此,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种器件状态监测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取访问信息,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问之后,所述方法还包括:

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问之后,所述方法还包括:<...

【技术特征摘要】

1.一种器件状态监测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取访问信息,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问之后,所述方法还包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:祁国
申请(专利权)人:杭州迪普科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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