【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片检测领域，更具体地，涉及一种存储芯片的测试系统。
技术介绍
1、目前现行的检测存储芯片方式，大多是利用多个检测装置，逐一地对各个存储芯片，逐一进行预定的各种检测，如此检测的方式，需要耗费大量的时间。另外，现有存储芯片检测的设备，大多是以人工的方式，进行存储芯片的插接及卸除。因此，需要大量的人力并耗费大量的时间，才可完成大量的存储芯片的检测作业。
技术实现思路
1、本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种存储芯片的测试系统，可以提高芯片检测效率。
2、本技术的目的是通过以下方案实现的：
3、一种存储芯片的测试系统，包括：
4、多个检测装置、控制装置及移载装置，控制装置电性连接多个检测装置，移载装置电性连接控制装置；所述检测装置设置有检测结果信息输出端且与控制装置的第一输入端连接，所述检测装置设置有完成信号输出端且与控制装置的第二输入端连接，所述控制装置设置有检测信息输出端且与检测装置的输入端连接；所述控制装置设置有移载信号输出端且与移载装
【技术保护点】
1.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述检测装置设置有侦测单元一，侦测单元一能够与控制装置发出的测试信号建立通信连接，用于侦测相对应的检测装置上是否设置有存储芯片。
5.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：承载装置，控制装置电性连接承载装置，承载装置用于承载待检测的多个存储芯片，且承载装置设有侦测单元...
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述检测装置设置有侦测单元一，侦测单元一能够与控制装置发出的测试信号建立通信连接，用于侦测相对应的检测装置上是否设置有存储芯片。
5.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：承载装置，控制装置电性连接承载装置，承载装置用于承载待检测的多个存储芯片，且承载装置设有侦测单元二，侦测单元二能够与控制装置发出的确认信号通信连接，用于侦测承载装置是否设置有存储芯片，并产...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢杰志，
申请(专利权)人：成都芯金邦科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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