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本技术公开了一种存储芯片的测试系统，属于芯片测试领域，包括：多个检测装置、控制装置及移载装置，控制装置电性连接多个检测装置，移载装置电性连接控制装置；检测装置设置检测结果信息输出端且与控制装置的第一输入端连接，检测装置设置完成信号输出端且与...
该专利属于成都芯金邦科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都芯金邦科技有限公司授权不得商用。

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