【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子元件测试，特别是涉及一种测试装置。
技术介绍
1、在电子元器件、芯片、数码产品等领域中，产品封装之前需要对产品进行测试，以检测测试产品的功能是否正常。
2、目前，在对待测产品进行性能测试的过程中，首先需通过机械臂或人工在上料位拿取待测产品，且将待测产品上料至测试位对待测产品进行性能测试，在待测产品测试完成后，再通过机械臂或人工将测试完成后的待测产品由测试位转运至下料位对待测产品进行下料操作。但是，上述待测产品在上料、测试与下料的过程中，待测产品的取料、测试与下料作业依次进行，各工序之间的等待时间较长，且待测产品单次仅能够完成一个待测产品的上下料与测试作业，导致待测产品的上下料与测试效率过低。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对待测产品的上下料与测试效率过低的问题，提供一种测试装置。
2、一种测试装置，所述测试装置包括：
3、机台，所述机台具有上料位、接料位、下料位以及多个测试位；
4、上料平台，所述上料平台设置于所述机台，且可在所述上料位与所述接料位之间往复运动，所述上料平台具有承载待测产品的多个第一承载位；
5、多组取料机构，多组所述取料机构均设置于所述机台，所述取料机构包括多个取料模组，多个所述取料模组对应多个所述测试位，所述取料模组用于所述待测产品的取放料，任意一组所述取料机构中的多个所述取料模组可同时在所述接料位与所述测试位之间运动切换；以及
6、下料平台，所述下料平台设置于所述机台，且
7、在其中一个实施例中，多个所述取料模组均转动设置于所述机台，且任意一组所述取料机构中的多个所述取料模组沿所述接料位的周向方向间隔设置。
8、在其中一个实施例中，多组所述取料机构间隔设置，且当多组所述取料机构中的至少一组运动至所述测试位时，至少一组所述取料机构运动至所述接料位。
9、在其中一个实施例中，所述取料模组包括转轴、取料臂与吸附组件，所述转轴转动设置于所述机台，所述取料臂设置于所述转轴，所述吸附组件设置于所述取料臂远离所述转轴的一端，用于吸附所述待测产品；
10、所述吸附组件被配置为响应于所述取料臂的转动而在所述接料位与所述测试位之间运动切换。
11、在其中一个实施例中，所述吸附组件包括安装座、压接板、吸嘴与导柱，所述安装座设置于所述取料臂远离所述转轴的端部，所述导柱连接所述压接板与所述吸嘴，且沿其延伸方向可移动地插设于所述安装座，所述压接板与所述吸嘴分别位于所述安装座相对的两侧；
12、所述吸嘴具有仿形凸台，所述凸台可与所述第一承载位或所述第二承载位相配合。
13、在其中一个实施例中，所述安装座设有安装孔，所述导柱在其延伸方向具有相连接的小端与大端，所述小端远离所述大端的端部连接于所述压接板，所述大端远离所述小端的端部连接于所述吸嘴，所述大端的周向尺寸大于所述小端的周向尺寸，所述大端与所述安装孔紧密配合，且在所述压接板上施加作用力时，所述大端与所述安装孔分离，且所述小端与所述安装孔间隙配合，所述吸嘴朝向靠近所述第一承载位或所述第二承载位的方向运动。
14、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括滑动平台，所述滑动平台设置于所述机台，且在其延伸方向依次具有所述上料位、所述接料位与所述下料位；
15、所述上料平台包括第一运动台及设置于所述第一运动台上的第一承载板，所述第一运动台滑动设置于所述滑动平台，且可在所述上料位与所述接料位之间往复运动，所述第一承载板具有多个所述第一承载位，且在所述第一承载位处设有第一承载腔，所述第一承载腔用于吸附所述待测产品；
16、所述下料平台包括第二运动台及设置于所述第二运动台上的第二承载板，所述第二运动台滑动设置于所述滑动平台，且可在所述下料位与所述接料位之间往复运动，所述第二承载板具有多个所述第二承载位，且在所述第二承载位处设有第二承载腔，所述第二承载腔用于吸附所述待测产品。
17、在其中一个实施例中，所述第一承载板浮动设置于所述第一运动台，所述第二承载板浮动设置于所述第二运动台。
18、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括多个测试机构，所述测试机构具有所述测试位，当所述待测产品位于所述测试位时，所述测试机构可导通所述待测产品。
19、在其中一个实施例中，所述测试机构包括测试模组与摄像模组，所述测试模组具有所述测试位，用于导通所述待测产品，所述摄像模组与所述测试模组间隔设置，用于获取所述测试模组的位置信息。
20、上述测试装置，当需对待测产品（芯片）进行压接测试时，首先，上料平台可在上料位上料多个待测产品；其次，上料平台带着上料的多个待测产品运动至接料位，多个取料模组同时运动至接料位，以对上料平台上的多个待测产品同步进行取料动作；然后，多个取料模组同时运动至多个测试位，通过多个测试位对多个待测产品进行同步压接测试；接着，在多个待测产品的压接测试完成之后，多个取料模组带着测试完后的待测产品同时运动至接料位，且下料平台运动至接料位，以供多个取料模组承载的待测产品进行下料操作；最后，下料平台由接料位运动至下料位，以对测试完后的待测产品进行检测或下料等作业。其中，取料机构于接料位将上料平台承载的多个待测产品取料后，上料平台由接料位运动至上料位继续进行待测产品的上料，且在上料平台离开接料位后，下料平台由下料位运动至接料位进行测试完后待测产品的下料。本申请提供的测试装置，通过上料平台、多组取料机构与下料平台的交替运动，协同进行待测产品的上料、测试与下料操作，可缩短待测产品的上下料与测试时间，进而提高待测产品的上下料与测试效率。
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1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多个所述取料模组均转动设置于所述机台，且任意一组所述取料机构中的多个所述取料模组沿所述接料位的周向方向间隔设置。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多组所述取料机构间隔设置，且当多组所述取料机构中的至少一组运动至所述测试位时，至少一组所述取料机构运动至所述接料位。
4.根据权利要求2或3任一项所述的测试装置，其特征在于，所述取料模组包括转轴、取料臂与吸附组件，所述转轴转动设置于所述机台，所述取料臂设置于所述转轴，所述吸附组件设置于所述取料臂远离所述转轴的一端，用于吸附所述待测产品；
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述吸附组件包括安装座、压接板、吸嘴与导柱，所述安装座设置于所述取料臂远离所述转轴的端部，所述导柱连接所述压接板与所述吸嘴，且沿其延伸方向可移动地插设于所述安装座，所述压接板与所述吸嘴分别位于所述安装座相对的两侧；
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述安装座设有安装孔，所述导柱
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括滑动平台，所述滑动平台设置于所述机台，且在其延伸方向依次具有所述上料位、所述接料位与所述下料位；
8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第一承载板浮动设置于所述第一运动台，所述第二承载板浮动设置于所述第二运动台。
9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括多个测试机构，所述测试机构具有所述测试位，当所述待测产品位于所述测试位时，所述测试机构可导通所述待测产品。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述测试机构包括测试模组与摄像模组，所述测试模组具有所述测试位，用于导通所述待测产品，所述摄像模组与所述测试模组间隔设置，用于获取所述测试模组的位置信息。
...【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多个所述取料模组均转动设置于所述机台，且任意一组所述取料机构中的多个所述取料模组沿所述接料位的周向方向间隔设置。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多组所述取料机构间隔设置，且当多组所述取料机构中的至少一组运动至所述测试位时，至少一组所述取料机构运动至所述接料位。
4.根据权利要求2或3任一项所述的测试装置，其特征在于，所述取料模组包括转轴、取料臂与吸附组件，所述转轴转动设置于所述机台，所述取料臂设置于所述转轴，所述吸附组件设置于所述取料臂远离所述转轴的一端，用于吸附所述待测产品；
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述吸附组件包括安装座、压接板、吸嘴与导柱，所述安装座设置于所述取料臂远离所述转轴的端部，所述导柱连接所述压接板与所述吸嘴，且沿其延伸方向可移动地插设于所述安装座，所述压接板与所述吸嘴分别位于所述安装座相对的两侧；
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述安装座设有安装孔，所述导柱在其延伸方向具有相连接的小端与...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙奇奇，冯绍亮，倪佳斌，胡清柱，梁宇，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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