【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子元件测试，特别是涉及一种测试装置。
技术介绍
1、在电子元器件、芯片、数码产品等领域中，产品封装之前需要对产品进行测试，以检测测试产品的功能是否正常。
2、目前，在对待测产品进行性能测试的过程中，首先需通过机械臂或人工在上料位拿取待测产品，且将待测产品上料至测试位对待测产品进行性能测试，在待测产品测试完成后，再通过机械臂或人工将测试完成后的待测产品由测试位转运至下料位对待测产品进行下料操作。但是，上述待测产品在上料、测试与下料的过程中，待测产品的取料、测试与下料作业依次进行，各工序之间的等待时间较长，且待测产品单次仅能够完成一个待测产品的上下料与测试作业，导致待测产品的上下料与测试效率过低。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对待测产品的上下料与测试效率过低的问题，提供一种测试装置。
2、一种测试装置，所述测试装置包括：
3、机台，所述机台具有上料位、接料位、下料位以及多个测试位；
4、上料平台，所述上料平台设置于所述机台，且可...
【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多个所述取料模组均转动设置于所述机台，且任意一组所述取料机构中的多个所述取料模组沿所述接料位的周向方向间隔设置。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多组所述取料机构间隔设置，且当多组所述取料机构中的至少一组运动至所述测试位时，至少一组所述取料机构运动至所述接料位。
4.根据权利要求2或3任一项所述的测试装置，其特征在于，所述取料模组包括转轴、取料臂与吸附组件，所述转轴转动设置于所述机台，所述取料臂设置于所述转轴，所述吸附组件设...
【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多个所述取料模组均转动设置于所述机台，且任意一组所述取料机构中的多个所述取料模组沿所述接料位的周向方向间隔设置。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多组所述取料机构间隔设置，且当多组所述取料机构中的至少一组运动至所述测试位时，至少一组所述取料机构运动至所述接料位。
4.根据权利要求2或3任一项所述的测试装置，其特征在于，所述取料模组包括转轴、取料臂与吸附组件，所述转轴转动设置于所述机台，所述取料臂设置于所述转轴，所述吸附组件设置于所述取料臂远离所述转轴的一端，用于吸附所述待测产品；
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述吸附组件包括安装座、压接板、吸嘴与导柱，所述安装座设置于所述取料臂远离所述转轴的端部，所述导柱连接所述压接板与所述吸嘴，且沿其延伸方向可移动地插设于所述安装座，所述压接板与所述吸嘴分别位于所述安装座相对的两侧；
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述安装座设有安装孔，所述导柱在其延伸方向具有相连接的小端与...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙奇奇，冯绍亮，倪佳斌，胡清柱，梁宇，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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