【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体激光器测试，更具体地说，特别涉及一种半导体激光器件的测试装置及测试方法。
技术介绍
1、半导体激光器是一种利用半导体材料制成的激光发射器件，它利用半导体材料的特性在电子激发下产生激光，通常被广泛应用于通信、医疗、测量仪器和各种传感器中，半导体激光器在使用前往往需要进行多种测试，从而保证半导体激光器的性能、稳定性和可靠性，以满足不同应用场景的需求，这些测试可以帮助制造商和用户了解设备的特性，并保证其正常工作和长期稳定运行。
2、1.现有的装置对半导体激光器进行测试时，通常使用的是利用热电偶或红外线测温传感器等温度传感器进行间接测量，这些传感器被放置在激光芯片周围或附近，以间接地监测激光芯片的温度变化，但温度传感器的放置位置会对测量区域有一定影响，进而容易导致对激光芯片测量温度的不均匀性，测试效果有待提高；
3、2.现有的装置在使用时，为了保证测温的准确性，在采用的为红外线测温传感器的情况下往往需要定期对红外线测温仪进行清洁，但现有的清洁方式往往采用人工的方式来对红外线测温传感器的探头进行清洁，较
【技术保护点】
1.一种半导体激光器件的测试装置，包括测试装置本体(11)与测试单元(12)，所述测试单元(12)设于测试装置本体(11)上方，所述测试装置本体(11)内部设有多个测试腔(13)，其特征在于，所述测试单元(12)内部开设有置物槽(14)，所述置物槽(14)侧壁上贯穿开设有第一滑槽(15)，所述置物槽(14)远离第一滑槽(15)一侧的侧壁上开设有多个第二滑槽(16)：
2.如权利要求1所述一种半导体激光器件的测试装置，其特征在于：所述辅助加强机构还包括滑动件(23)、滑环(24)、第二齿条组(26)、内齿形同步带(28)、转杆(29)、齿轮(31)、壳体(3...
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器件的测试装置，包括测试装置本体(11)与测试单元(12)，所述测试单元(12)设于测试装置本体(11)上方，所述测试装置本体(11)内部设有多个测试腔(13)，其特征在于，所述测试单元(12)内部开设有置物槽(14)，所述置物槽(14)侧壁上贯穿开设有第一滑槽(15)，所述置物槽(14)远离第一滑槽(15)一侧的侧壁上开设有多个第二滑槽(16)：
2.如权利要求1所述一种半导体激光器件的测试装置，其特征在于：所述辅助加强机构还包括滑动件(23)、滑环(24)、第二齿条组(26)、内齿形同步带(28)、转杆(29)、齿轮(31)、壳体(32)、第一弹簧(35)、第二弹簧(36)、第三滑块(37)、弧形台(41)以及清洁擦板(42)；
3.如权利要求2所述一种半导体激光器件的测试装置，其特征在于：每个所述滑环(24)均位于环槽(22)内部滑动安装，每个所述滑动件(23)下端部均固定安装有红外测温传感器(25)，每个所述第二齿条组(26)均位于滑动件(23)圆周表面固定安装。
4.如权利要求3所述一种半导体激光器件的测试装置，其特征在于：所述置物槽(14)内壁固定安装有电机(27)，所述电机(27)位于滑动件(23)上方，所述电机(27)的输出轴与滑动件(23)固定安装，所述内齿形同步带(28)位于第二齿条组(26)之间啮合安装。
5.如权利要求4所述一种半导体激光器件的测试装置，...
【专利技术属性】
技术研发人员：张秀萍，赵军华，吴德华，王浟，
申请(专利权)人：山东华光光电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。