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本发明提供一种半导体激光器件的测试装置及测试方法，涉及半导体激光器测试技术领域，包括测试装置本体与测试单元，测试单元设于测试装置本体上方，测试单元内部开设有置物槽，置物槽侧壁上贯穿开设有第一滑槽，第一滑槽内部滑动安装有辅助加强机构，辅助加强...
该专利属于山东华光光电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华光光电子股份有限公司授权不得商用。

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