【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及人工智能,尤其涉及一种回归式头影地标检测方法。
技术介绍
1、x线头影测量可用于:1.研究颅面生长发育、2.牙颌、颅面畸形的诊断分析、3.确定错畸形的矫治设计、4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化、5.外科正畸的诊断和矫治设计、6.下颌功能分析等等。其,中x线头影测量标志点(cephalometriclandmarks)可以用于构建正畸治疗分析指标,对于制定正畸治疗方案和手术前后精准对比分析有重要意义。但常用的头影测量标志点有19个,对这19个常用的标志点手动进行标注耗时较多。
2、因此,目前亟需一种可以自动检测头影测量标志点的技术方案。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种回归式头影地标检测方法,以自动检测头影测量标志点。
2、本专利技术实施例第一方面提供了一种回归式头影地标检测方法,所述方法应用于回归式头影地标检测模型,所述回归式头影地标检测模型包括:特征提取器、参考编码器和调优编码器,所述方法包括:
3、通
...【技术保护点】
1.一种回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述方法应用于回归式头影地标检测模型,所述回归式头影地标检测模型包括:特征提取器、参考编码器和调优编码器,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述回归式头影地标检测模型的训练过程包括:
3.根据权利要求2所述的回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述第一编码器基于所述最后一层样本特征图和所述头影测量地标点位置编码进行自注意学习,输出样本参考预测地标,包括:
4.根据权利要求2所述的回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
5.
...【技术特征摘要】
1.一种回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述方法应用于回归式头影地标检测模型,所述回归式头影地标检测模型包括:特征提取器、参考编码器和调优编码器,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述回归式头影地标检测模型的训练过程包括:
3.根据权利要求2所述的回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述第一编码器基于所述最后一层样本特征图和所述头影测量地标点位置编码进行自注意学习,输出样本参考预测地标,包括:
4.根据权利要求2所述的回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
5.根据权利要求1所述的回归式头影地标检测方法,其特征在于,所述特征提取器为4层特征提取网络结构,所述通过特征提取器对前k层特征图分别进行下采样操作,包括:
6.根据权利要求2所述的回归式头影地...
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