【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路数据分析领域，更具体的，涉及一种基于数据分析的高速电路质量评估方法、系统及介质。
技术介绍
1、随着电路技术的飞速发展，高速电路已成为现代电子设备的重要组成部分。然而，高速电路的质量评估一直是业界的难题。传统的电路质量评估方法往往依赖于实验测试和人工分析，这种方式效率低下，且难以应对复杂的电路环境与多变的工作条件。且现有技术缺少对电路模块分布合理性分析与质量评估相结合的技术方案，因此，开发一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，对于提高电路质量评估的准确性和效率具有重要意义。
技术实现思路
1、本专利技术克服了现有技术的缺陷，提出了一种基于数据分析的高速电路质量评估方法、系统及介质。
2、本专利技术第一方面提供了一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，包括：
3、通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集；
4、基于红外图像集进行红外特征提取，通过对特征进行温度变化分析，温度变化分析基于线性回归模...
【技术保护点】
1.一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集，具体为：
3.根据权利要求2所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述基于红外图像集进行红外特征提取，通过对特征进行温度变化分析，温度变化分析基于线性回归模型，通过变化分析结合基础运行计划对目标高速电路图进行模块划分，形成基于红外温控分析的模块划分信息，并通过线性回归模型得到各模块的温度变化曲线图，具
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【技术特征摘要】
1.一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集，具体为：
3.根据权利要求2所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述基于红外图像集进行红外特征提取，通过对特征进行温度变化分析，温度变化分析基于线性回归模型，通过变化分析结合基础运行计划对目标高速电路图进行模块划分，形成基于红外温控分析的模块划分信息，并通过线性回归模型得到各模块的温度变化曲线图，具体为：
4.根据权利要求3所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述所述获取目标高速电路板的电路设计分布信息，将电路设计分布信息与模块划分信息进行模块位置分布特征差异分析，分布特征差异分析过程为通过预设聚类模型对分布的模块轮廓特征进行聚类分析，基于聚类结果进行差异分析，通过差异计算进行电路模块质量评估，形成质量评估数据，具体为：
5.根据权利要求4所述的一种基于数据分析的高速电...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘德启，
申请(专利权)人：中茵微电子南京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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