【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种生成准循环低密度一致校验码的方法,其特征在于,所述方法包括: 获得系统的低码率要求和高码率准循环低密度一致校验码的度分布,设计低码率准循环低密度一致校验码的度分布; 根据所述的低码率准循环低密度一致校验码的度分布和高码率准循 环低密度一致校验码的度分布,确定构造低码率准循环低密度一致校验码基校验矩阵的过程中高码率准循环低密度一致校验码中需要分解的校验节点和需要扩展的变量节点; 基于构造方法和低码率准循环低密度一致校验码对二元基校验矩阵校验部分结构的限制,构 造低码率准循环低密度一致校验码的基校验矩阵。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:金莹,张晓辉,
申请(专利权)人:华为技术有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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