【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于测试轮胎的设备和方法。
技术介绍
1、翻新轮胎的使用已经变得越来越普遍，所述翻新轮胎是在损坏的轮胎(即在内衬层中具有诸如孔、裂纹或凹凸的缺陷的轮胎)所经受的翻新处理结束时获得的。然而，在执行翻新处理之前，以可靠的方式识别轮胎中、尤其是胎体上存在的所有缺陷并对其进行修复是极其重要的。即使对胎体的视觉或机械检查是相对准确的，但经常发生一些缺陷无法被识别；这些缺陷于是可能在翻新处理期间或在道路上使用翻新轮胎期间引发问题，导致轮胎故障、安全性问题和车辆停止。
2、为此，已知如下的轮胎测试设备，其中测试轮胎具有环状胎体，该环状胎体在内侧限定腔并支撑配置在胎体外侧的一对侧壁。所述设备通常包括：借助于连接有多个线环的至少一个板而获得的探测器，该线环被设计成在胎体的腔的表面轮廓上滑动并且由导电材料制成；扩展体，该扩展体旨在加宽胎体以使探测器进入腔附近；至少一个辊，该辊被设计成支撑轮胎并使轮胎围绕中心轴线旋转并且由导电材料制成；最后还包括高电压测试系统，该高电压测试系统适于检测胎体中缺陷的存在并且包括由探测器和辊限定的一对电
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【技术保护点】
1.一种用于测试轮胎(2)的设备，所述轮胎(2)具有第一中心轴线(X)并且具有环状胎体(3)，所述环状胎体(3)在内部限定腔(16)并支撑被配置在所述胎体(3)的外侧的一对侧壁(4)；所述设备(1)包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径的范围为68厘米至240厘米；优选地，所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径等于103厘米。
3.根据权利要求1或2所述的设备，其中所述外表面(11)的表面电阻率包括在10*e3至10*e6Ω/sq cm的范围内。
4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于测试轮胎(2)的设备，所述轮胎(2)具有第一中心轴线(x)并且具有环状胎体(3)，所述环状胎体(3)在内部限定腔(16)并支撑被配置在所述胎体(3)的外侧的一对侧壁(4)；所述设备(1)包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径的范围为68厘米至240厘米；优选地，所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径等于103厘米。
3.根据权利要求1或2所述的设备，其中所述外表面(11)的表面电阻率包括在10*e3至10*e6ω/sq cm的范围内。
4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述涂层(10)的厚度小于或等于15mm，优选地范围为4mm至15mm。
5.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述链甲部(29)的长度(l)为至少3cm；优选地，所述链甲部(29)的长度(l)的范围为8cm至15cm。
6.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中在所述胎体(3)的内侧配置有内衬层；并且所述链甲部(29)沿着纵向覆盖至少3cm的所述内衬层表面，优选地，所述链甲部(29)沿着纵向覆盖8cm至15cm的所述内衬层表面。
7.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述结构体(17)包括中央销(18)和第二可移动块(22)，所述中央销(18)具有第二轴线(x18)并且在其一端刚性地连接到第一固定块(19)，所述第二可移动块(22)连接到所述销(18)并且沿着所述销(18)在提升位置和测试位置之间自由滑动，在所述提升位置中，距所述第一块(19)的距离最大并且在横向于所述第二轴线(x18)的方向上占据的空间最小，在所述测试位置中，距所述第一块(19)的距离最小并且在横向于所述第二轴线(x18)的方向上占据的空间最大。
8.根据权利要求7所述的设备，其中所述第一块设置有被设计成在所述内腔(16)的轮廓上滑动的第一引导辊(20)。
9.根据权利要求7或8所述的设备，其中所述结构体(17)包括连接到所述第一块(19)和所述第二块(22)两者的至少一个铰接臂(21a、21b)。
【专利技术属性】
技术研发人员：B·文森特，
申请(专利权)人：普利司通欧洲有限公司，
类型：发明
国别省市：
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