一种气相沉积设备制造技术

技术编号:42081401 阅读:29 留言:0更新日期:2024-07-19 16:59
本发明专利技术提供了一种气相沉积设备,属于半导体设备领域,为了解决腔室门阀寿命低的问题,本发明专利技术具体包括:反应腔,其侧壁上设置有传片口,托盘,其位于所述反应腔中,用于承载基片;加热器,其位于托盘下方,用于控制托盘的温度;传片通道,其一端与传片口连通,另一端设置有可开关的门阀;传片通道中设置有可上下移动的挡风板,用于在处理基片过程中遮挡传片口;隔热组件,其位于挡风板与门阀之间,用于阻隔挡风板向门阀辐射的热量,本发明专利技术的气相沉积设备用于基片的处理,可以提高门阀的使用寿命,减少设备零件更换频率,提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及薄膜生长设备领域,尤其涉及一种气相沉积设备


技术介绍

1、化学气相沉积(cvd,chemical vapor deposition)是一种在基片表面生成膜层的技术,具体包括将含有膜层元素的气体输入反应腔中,通过在基片表面发生化学反应来生成膜层的工艺。近年来,随着led(light-emitting diode)的广泛应用,金属有机化学气相沉积(mocvd,metal-organic chemical vapordeposition)工艺越来越多的被使用。

2、在mocvd工艺中,通常需要将ⅲ族化合物气体和ⅴ族化合物气体输入到mocvd的反应腔内,利用基片托盘将基片加热到一定温度,使反应气体在基片表面发生化学反应生成ⅲ-ⅴ族化合物的膜层。其中为了获得足够的均匀性,需要同时控制托盘的加热温度和反应气体的流场均匀分布,加热温度通常需要在1000℃以上,均匀的流场主要依靠腔室内结构的对称实现。但是,并不是所有的mocvd设备内的部件都能耐受高温,为了提高部件的寿命,有必要控制工艺过程中的热辐射范围。


技术实现本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种气相沉积设备,用于处理基片,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热组件可以在阻隔状态和传片状态进行切换,由所述传片状态向阻隔状态切换时,所述隔热组件与所述传片通道的竖直截面重合面积增加。

3.如权利要求1所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热组件包括隔热板和切换机构。

4.如权利要求3所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热板的数量为多个。

5.如权利要求3所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热组件包括冷却机构,用于对所述隔热组件进行降温。

6.如权利要求5所述的气相沉积设备,其...

【技术特征摘要】

1.一种气相沉积设备,用于处理基片,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热组件可以在阻隔状态和传片状态进行切换,由所述传片状态向阻隔状态切换时,所述隔热组件与所述传片通道的竖直截面重合面积增加。

3.如权利要求1所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热组件包括隔热板和切换机构。

4.如权利要求3所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热板的数量为多个。

5.如权利要求3所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热组件包括冷却机构,用于对所述隔热组件进行降温。

6.如权利要求5所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热板内设置有流体回路,所述冷却机构与所述流体回路连通,用于循环冷却流体。

7.如权利要求1所述的气相沉积设备,其特征在于,所述挡风板通过一具有水平延展的连接杆与升降机构固定连接,所述挡风板移动到高位时盖住所述传片口,移动到低位时露出所述传片口。

8.如权利要求7所述的气相沉积设备,其特征在于,所述隔热组件包括上隔热板和下隔热板,所述上隔热板与所述下隔热板在水平方向上错开设置,所述上隔热板位于所述连接杆上,所述下隔热板设置于所述传片通道的内侧的下表面。

9.如权利要求8所述的气相沉积设备,其特征在于,所述下隔热板的上表面低于所述托盘的上表面;当所述挡风板移动到低位时,所述上隔热板的上表面低于所述托盘的上表面。

10.如权利要求7所述的气相沉积设备,其特征在于,当所述挡风板移动到高位时,所述上隔热板和下隔热板在水平方向上部分重叠。

11.如权利要求7所述的气相沉积设备,其特征在于,所述下隔热板设置有一容纳槽,当所述挡风板移动到低位时,所述连接杆落入所述容纳槽中。

12.如权利要求3所述的气相沉积设备,其特征在于,所述切换机...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄稳张昭丁伟张鹏
申请(专利权)人:中微半导体设备上海股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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