【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及综合孔径辐射计信号处理领域，尤其涉及一种六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法。
技术介绍
1、综合孔径辐射计是一种用于获取观测对象的辐射亮温的微波遥感设备，其通过干涉测量对视场内辐射亮温分布的空间频率域进行采样，得到可见度函数，且通过采用稀疏化的小天线阵列设计方案，避免了大口径实孔径天线的制造、加工等工程实现难题。六边形采样网格综合孔径辐射计通常由三角形、六边形或y字形天线阵列排布构成，具有阵列结构拓扑性强、空间频率域采样效率高的应用优势。针对综合孔径辐射计观测区域内的亮温异常值进行定位具有明确的应用需求，如射频干扰源定位、发射率异常目标定位等。然而，采用传统亮温重建方法实现六边形采样网格综合孔径辐射计的亮温异常值快速定位，必须在六边形采样网格下通过坐标变换、频谱延拓和搬移、二维快速傅里叶变换、空域延拓和搬移、逆坐标变换等一系列步骤完成，操作繁琐且计算资源耗费量大，难以满足强实时性的应用场景。
技术实现思路
1、本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题
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【技术保护点】
1.一种六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法，其特征在于，各设定要求均包括多个条件，两组定位可见度函数采样值集合包括第一定位可见度函数采样值集合组和第二定位可见度函数采样值集合组；第一定位可见度函数采样值集合组包括满足不同条件的多个第一定位可见度函数采样值集合；第二定位可见度函数采样值集合组包括满足不同条件的多个第二定位可见度函数采样值集合。
3.根据权利要求1所述的六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法，其特征在于，所述基于两组定位可...
【技术特征摘要】
1.一种六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法，其特征在于，各设定要求均包括多个条件，两组定位可见度函数采样值集合包括第一定位可见度函数采样值集合组和第二定位可见度函数采样值集合组；第一定位可见度函数采样值集合组包括满足不同条件的多个第一定位可见度函数采样值集合；第二定位可见度函数采样值集合组包括满足不同条件的多个第二定位可见度函数采样值集合。
3.根据权利要求1所述的六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法，其特征在于，所述基于两组定位可见度函数采样值集合的一维快速傅里叶变换值确定亮温异常值坐标位置，包括：
4.根据权利要求3所述的六边形采样网格综合孔径辐射计亮温异常值定位方法，其特征在于，所述根据一维快速傅里叶变换值确定亮温异常值坐标位置，包括：
5.根据权利要求1所述的六...
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