本技术涉及半导体测试技术领域，且公开了一种半导体器件测试的夹持装置，包括操作台，所述操作台上对称开设有两组滑槽，所述滑槽内活动安装有推动块，所述操作台对应两组推动块之间的位置对称固定安装有两组固定支架，所述固定支架内设置有夹持杆，所述推动块贯穿滑槽并延伸至滑槽下方，所述操作台的底端面对称固定安装有两组丝杆支架。本技术中，当双向丝杆旋转时，两组推动块在操作台上端沿滑槽相向滑动，推动两侧的加持杆同步向中心夹持，从而让处于操作台中间的半导体器件同时受到左右两侧同等力量夹持，让所有的半导体器件保持居中方便检测。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体测试，尤其涉及一种半导体器件测试的夹持装置。
技术介绍
1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。
2、在半导体生产过程中需要使用夹具对其进行固定，方便检测等操作。
3、中国专利公告号cn218240156u公开了一种半导体测试夹具，包括夹具台的一侧固定焊接有固定块，固定块的内部通过螺纹连接有螺杆，螺杆的一端滑动连接有推板，推板的侧面固定焊接有导杆，该半导体测试夹具，方便对不同大小型号的半导体进行固定，提高一次性测试数量。
4、其技术要点是通过多个可以伸缩的夹板以及一个固定地对夹板对不同尺寸的半导体进行统一固定，但是该种结构导致多个尺寸不同的半导体其一端对齐，另一侧根据长度不同形成落差，在进行触点检测时，因半导体触点一般处于半导体的中心或两侧端部，错落的夹持不利于触点对正，不方便检测。
5、为此，我们提出一种半导体器件测试的夹持装置。
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【技术保护点】
1.一种半导体器件测试的夹持装置，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)上对称开设有两组滑槽(2)，所述滑槽(2)内活动安装有推动块(3)，所述操作台(1)对应两组推动块(3)之间的位置对称固定安装有两组固定支架(6)，所述固定支架(6)内设置有夹持杆，所述推动块(3)贯穿滑槽(2)并延伸至滑槽(2)下方，所述操作台(1)的底端面对称固定安装有两组丝杆支架(4)，两组所述丝杆支架(4)之间活动安装有可绕自身轴线旋转的双向丝杆(5)，所述双向丝杆(5)的两侧外壁面开设有方向相反的外螺纹，所述双向丝杆(5)的两端分别与一组推动块(3)螺纹连接，所述操作台(1)上还固定安装有检测器材滑...
【技术特征摘要】
1.一种半导体器件测试的夹持装置，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)上对称开设有两组滑槽(2)，所述滑槽(2)内活动安装有推动块(3)，所述操作台(1)对应两组推动块(3)之间的位置对称固定安装有两组固定支架(6)，所述固定支架(6)内设置有夹持杆，所述推动块(3)贯穿滑槽(2)并延伸至滑槽(2)下方，所述操作台(1)的底端面对称固定安装有两组丝杆支架(4)，两组所述丝杆支架(4)之间活动安装有可绕自身轴线旋转的双向丝杆(5)，所述双向丝杆(5)的两侧外壁面开设有方向相反的外螺纹，所述双向丝杆(5)的两端分别与一组推动块(3)螺纹连接，所述操作台(1)上还固定安装有检测器材滑动支架(12)，所述检测器材滑动支架(12)横架在操作台(1)上方且处于两组固定支架(6)中间的位置。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试的夹持装置，其特征在于：所述操作台(1)对应两组固定支架(6)之间的位置开设有分类槽(9)，所述分类槽(9)为弧形凹槽且数量与夹持杆数量相...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨杰，库溢，马倩，
申请(专利权)人：九天智能科技宁夏有限公司，
类型：新型
国别省市：
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