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本技术涉及半导体测试技术领域，且公开了一种半导体器件测试的夹持装置，包括操作台，所述操作台上对称开设有两组滑槽，所述滑槽内活动安装有推动块，所述操作台对应两组推动块之间的位置对称固定安装有两组固定支架，所述固定支架内设置有夹持杆，所述推动块...
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