【技术实现步骤摘要】
本公开涉及半导体,尤其涉及一种低静态功耗控制电路与存储器。
技术介绍
1、延迟锁相环(delay locked loop,dll)是在锁相环(phase locked loop,pll)的基础上改进得到的,目前已被广泛应用于集成电路中。
2、目前,dll作为存储器源同步时钟产生模块,大多采用低阈值电压器件,以保证较小的信号延迟。然而,随着dll采用的器件尺寸逐渐变小,dll产生的亚阈值漏电电流逐渐增大,尤其是当存储器工作温度较高时,亚阈值漏电会越发严重,导致存储器的静态功耗较高。
技术实现思路
1、本公开提供了一种低静态功耗控制电路与存储器,可以有效减小dll的亚阈值漏电电流,降低存储器的静态功耗。
2、第一方面,本公开实施例提供了一种低静态功耗控制电路,应用于存储器,所述存储器包括延迟锁相环,所述低静态功耗控制电路包括状态控制电路与漏电保护电路;
3、所述漏电保护电路的第一端接地,第二端与所述延迟锁相环的接地端连接;或者,所述漏电保护电路的第一端与供电
...【技术保护点】
1.一种低静态功耗控制电路,其特征在于,应用于存储器,所述存储器包括延迟锁相环,所述低静态功耗控制电路包括状态控制电路与漏电保护电路;
2.根据权利要求1所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述状态控制电路还用于:
3.根据权利要求1或2所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述预设工作状态为读取状态。
4.根据权利要求1所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述延迟锁相环包括延迟线和时钟树;
5.根据权利要求1所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述状态控制电路包括温度感应电路与门电路;
6.根据权利要
...【技术特征摘要】
1.一种低静态功耗控制电路,其特征在于,应用于存储器,所述存储器包括延迟锁相环,所述低静态功耗控制电路包括状态控制电路与漏电保护电路;
2.根据权利要求1所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述状态控制电路还用于:
3.根据权利要求1或2所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述预设工作状态为读取状态。
4.根据权利要求1所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述延迟锁相环包括延迟线和时钟树;
5.根据权利要求1所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述状态控制电路包括温度感应电路与门电路;
6.根据权利要求5所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述门电路包括第一晶体管与逻辑电路;
7.根据权利要求6所述的低静态功耗控制电路,其特征在于,所述漏电保护电路包括第二晶体管;所述第二晶体管的控制端与所述门电路的输出端连接;
8.根据权利要求7所述的低静态功耗控制...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨杰,
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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