【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及仪器仪表和电子测量，特别是涉及一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法。
技术介绍
1、对于现代智能仪器，例如阻抗分析仪，功能中一般都包含了曲线轨迹示踪功能。该功能可以用于在相同的测试条件下多次测量相同或不同的被测件，对测量结果进行对比，进而做出进一步的数据分析和处理。目前常用的曲线轨迹示踪功能只能显示测量的曲线轨迹，无法撤销，且对比分析只能进行定性分析，较难获得特定频点下的每条曲线的测量值，不适合进行定量对比分析。因此目前的曲线轨迹示踪功能还存在较大的改进空间。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的是提供一种用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法，在显示曲线轨迹示踪的基础上，可以计算每条曲线在特定频点的测量值，提供定量分析的标准，同时允许撤销测量结果并进行重新测量。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
3、一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法，包括如下步骤：
4、步骤一、设置曲线参数；
5、步骤二、开始扫描测量，根据设置的参数，将测量结果绘制成曲线；
6、步骤三、设置需要计算测量对比值的频率点；
7、步骤四、计算已测量曲线，在所有添加的频率点处的测量值，写入数据表；
8、步骤五、将测量曲线和计算的测量值结果导出，进行进一步数据分析和处理；所述测量曲线为png格式；所述测量值结果为csv格式；
9、步骤一中，所述曲线
10、a、已知设置的频率点为f，查找曲线上所有点的x轴频率值，找到两个相邻点p1和p2，使得频率f在p1和p2对应的频率区间[f1,f2]中；
11、b、根据p1和p2的测量值y坐标y1和y2，插值计算频率点f处的测量值y坐标y；
12、若x轴为对数轴，使用对数插值，具体计算公式如下：
13、
14、若x轴为线性轴，使用线性插值，具体计算公式如下：
15、
16、本专利技术公开了以下技术效果：
17、本专利技术针对现有曲线轨迹示踪算法的不足，计算每条曲线在特定频点的测量值，提供定量分析的标准，同时允许撤销测量结果并进行重新测量，不改变曲线轨迹示踪基本方法的功能，仍然保持定性分析的过程。
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1.一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法，其特征在于，包括如下步骤：
【技术特征摘要】
1.一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄韡霖，孙伯乐，唐俊杰，
申请(专利权)人：常州同惠电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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