System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种光学防伪元件及光学防伪产品制造技术_技高网

一种光学防伪元件及光学防伪产品制造技术

技术编号:41904077 阅读:17 留言:0更新日期:2024-07-05 14:09
本发明专利技术涉及防伪技术领域,公开了一种光学防伪元件及光学防伪产品,该光学防伪元件包括:基材;设置于基材的表面的微结构形成层;微结构形成层包括第一微结构区和第二微结构区;第一微结构区设有反射面的倾角在预设方向上先变大后边小,或先变小后变大,或逐渐变小,或逐渐变大的第一反射元件;第二微结构区的表面设有特征尺寸为纳米级的第二反射元件;第一微结构区和第二微结构区覆盖有相同类型的反射增强层,本发明专利技术的光学防伪元件具有掐丝珐琅质感,通过使光学防伪元件具有掐丝珐琅质感可增强光学防伪元件的防伪能力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及防伪,特别是涉及一种光学防伪元件及光学防伪产品


技术介绍

1、掐丝珐琅是一项传统工艺,是著名特种金属工艺品类之一。掐丝珐琅是一种在铜制的胎型上,用柔软的扁铜丝,掐成各种花纹焊上,然后把珐琅质的色釉填充在花纹内烧制而成的器物。掐丝珐琅作为一种重要的装饰性品类,在各种场合具有广泛的应用。

2、从掐丝珐琅的制作工艺来看,其需要采用铜制材料,通过焊接的方式附着在衬底之上。如果衬底材质为纸张、有机聚合物膜时,则不能在其上实现掐丝珐琅工艺。

3、目前,光学防伪元件的基材采用聚丙烯类、聚碳酸酯类等等有机材料,因此不能在其上实现掐丝珐琅工艺,因此,目前尚未具有能够实现在光学防伪元件上增加掐丝珐琅质感的技术。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术提供了一种光学防伪元件及光学防伪产品,以解决现有的光学防伪元件不具有掐丝珐琅质感的技术问题。

2、本专利技术第一方面提供了一种光学防伪元件,包括:基材;设置于所述基材的表面的微结构形成层;所述微结构形成层包括第一微结构区和第二微结构区;所述第一微结构区设有反射面的倾角在预设方向上先变大后边小,或先变小后变大,或逐渐变小,或逐渐变大的第一反射元件;所述第二微结构区的表面设有特征尺寸为纳米级的第二反射元件;所述第一微结构区和所述第二微结构区覆盖有相同类型的反射增强层。

3、可选地,所述微结构形成层还包括第三透明区,第一微结构区和所述第二微结构区设置在所述第三透明区的中部。

4、可选地,所述第一反射元件为微反镜或闪耀光栅或菲涅尔反射镜。

5、可选地,所述第一反射元件的反射面的反射单元为多边形或带状。

6、可选地,所述第二反射元件为二维光栅或孔洞或凸起。

7、可选地,所述第二反射元件为复合光栅,所述复合光栅包括闪耀光栅和亚波长光栅且所述复合光栅在不同的位置具有不同的朝向和倾角。

8、可选地,所述反射增强层包括从下至上依次设置的反射层、介质层和吸收层,通过反射层、介质层和吸收层形成法布里-珀罗谐振腔。

9、可选地,所述反射层的材料为铝,厚度为40nm-60nm,所述介质层的材料为氟化镁,厚度为420nm-440nm,所述吸收层的材料为铁,厚度为6nm-8nm。

10、可选地,所述反射增强层为单层金属层或介质层,或者,所述反射增强层为多个金属层和/或介质层叠加形成的叠层结构。

11、本专利技术第二方面提供了一种光学防伪产品,包括如第一方面所述的光学防伪元件。

12、从以上技术方案可以看出,本专利技术实施例具有以下优点:

13、本专利技术提供的一种光学防伪元件及光学防伪产品,通过在第一微结构区设有反射面的倾角在预设方向上先变大后边小,或先变小后变大,或逐渐变小,或逐渐变大的第一反射元件,使光学防伪元件的第一微结构区呈现突出光学防伪元件之上或凹陷光学防伪元件之下的浮雕特征,即形成了掐丝珐琅中轮廓铜丝的效果,在第二微结构区的表面设有特征尺寸为纳米级的第二反射元件,且在第一微结构区和所述第二微结构区覆盖有相同类型的反射增强层,能够通过表面激元共振的方式能够在第二微结构区产生与反射增强层本身颜色不同的第二种颜色,实现铜丝区与珐琅质区的不同,进而使得光学防伪元件具有掐丝珐琅质感,通过使光学防伪元件具有掐丝珐琅质感可增强光学防伪元件的防伪能力。

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【技术保护点】

1.一种光学防伪元件,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述微结构形成层还包括第三透明区,所述第一微结构区和所述第二微结构区设置在所述第三透明区的中部。

3.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第一反射元件为微反镜或闪耀光栅或菲涅尔反射镜。

4.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第一反射元件的反射面的反射单元为多边形或带状。

5.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第二反射元件为二维光栅或孔洞或凸起。

6.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第二反射元件为复合光栅,所述复合光栅包括闪耀光栅和亚波长光栅且所述复合光栅在不同的位置具有不同的朝向和倾角。

7.根据权利要求6所述的光学防伪元件,其特征在于,所述反射增强层包括从下至上依次设置的反射层、介质层和吸收层,通过反射层、介质层和吸收层形成法布里-珀罗谐振腔。

8.根据权利要求7所述的光学防伪元件,其特征在于,所述反射层的材料为铝,厚度为40nm-60nm,所述介质层的材料为氟化镁,厚度为420nm-440nm,所述吸收层的材料为铁,厚度为6nm-8nm。

9.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述反射增强层为单层金属层或介质层,或者,所述反射增强层为多个金属层和/或介质层叠加形成的叠层结构。

10.一种光学防伪产品,其特征在于,包括如权利要求1至9任一所述的光学防伪元件。

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【技术特征摘要】

1.一种光学防伪元件,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述微结构形成层还包括第三透明区,所述第一微结构区和所述第二微结构区设置在所述第三透明区的中部。

3.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第一反射元件为微反镜或闪耀光栅或菲涅尔反射镜。

4.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第一反射元件的反射面的反射单元为多边形或带状。

5.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第二反射元件为二维光栅或孔洞或凸起。

6.根据权利要求1所述的光学防伪元件,其特征在于,所述第二反射元件为复合光栅,所述复合光栅包括闪耀光栅和亚波长光栅且所述复合光栅在...

【专利技术属性】
技术研发人员:张巍巍张宝利李欣毅孙凯
申请(专利权)人:中钞特种防伪科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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