本发明专利技术涉及射线测量技术领域，尤其涉及一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，包括以下步骤：S1.准备标准片：将若干不同面密度/厚度值的标准片固定在支架同一平面上，标准片与射线测量传感器相互平行；S2.测量标准片：射线测量传感器移动至标准片处，依次对各个标准片进行测量，根据若干标准片的已知面密度/厚度值和测量的信号值进行曲线拟合，得到拟合模型；S3.实时测量矫正：射线测量传感器实时对被测物体进行测量，获得被测物体的信号值，根据实时测量的信号值和S2中建立的拟合模型计算被测物体的面密度/厚度值；S4.周期性矫正：周期性重复S2和S3，能够简单、快速地实现对射线测量传感器的标定和校准，提高测量精度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及射线测量，具体为一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法。
技术介绍
1、在射线测量技术中，射线测量传感器是常用的检测设备。然而，随着使用时间的增长，射线测量传感器往往会出现能量衰减现象，导致测量精度下降。因此，需要对射线测量传感器进行定期标定和校准，以保证测量结果的准确性。
2、现有的标定校准方法大多基于标准源或标准物质，通过比较测量结果与标准值来进行校准。然而，这种方法在实际应用中存在一些问题，如标准源或标准物质的不易获取、操作复杂等。因此，有必要探索一种更为简单、有效的标定校准方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，包括以下步骤：
3、s1.准备标准片：将若干不同面密度/厚度值的标准片固定在支架同一平面上，标准片与射线测量传感器相互平行；
>4、s2.测量标准本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，其特征在于：所述S2中的拟合模型为y=ax²+bx+c，其中y为标准片已知的面密度/厚度值，x为测量标准片的信号值，根据若干标准片计算获得a、b和c值，得到拟合模型。
3.根据权利要求1所述的一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，其特征在于：所述标准片的数量至少设置有三片。
4.根据权利要求1所述的一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，其特征在于：所述射线测量传感器包括平行相对的射线源和探测...
【技术特征摘要】
1.一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法，其特征在于：所述s2中的拟合模型为y=ax²+bx+c，其中y为标准片已知的面密度/厚度值，x为测量标准片的信号值，根据若干标准片计算获得a、b和c值，得到拟合模型。
【专利技术属性】
技术研发人员：朱鹏程，赵佳森，曹国平，
申请(专利权)人：常州锐奇精密测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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