【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据处理，尤其涉及一种异常数据分析方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、oled(organic light-emitting diode，有机发光二极管)是近几年的新技术，国内的技术积累相对较少，所以当生产良率下降时，工艺工程师并不能通过生产经验，快速定位出问题参数；而oled制造工艺十分复杂，包含上百道制程，几十万个制程参数，有的参数细微波动就严重影响良率，而有的参数波动后不影响良率，而且设备的参数之间存在相互扰动和关联性。
2、在实际的oled生产过程中，如果能实时的检测出潜在导致不良率的异常设备参数，并能依据参数之间的关联性，定位到导致不良率的根因参数，这不仅提高了产线的良率，也缩短了工艺工程师排查异常的时间成本，可以极大的提高生产效率，缩减生产成本。
技术实现思路
1、本专利技术实施例的目的是提供一种异常数据分析方法、装置、电子设备及存储介质，以解决在工业生产过程中无法精准定位到导致不良率的根因参数的技术问题。
2、第一方面，本专利...
【技术保护点】
1.一种异常数据分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述基于图模型，对所述监测数据信息进行预测处理，得到预测数据信息，包括：
3.根据权利要求1所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述基于所述预测数据信息，对所述监测数据信息进行分析处理，得到数据分析结果，包括：
4.根据权利要求2所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述监测数据信息包括若干个监测设备的监测数据；
5.根据权利要求2所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述对所述第一目标特征向量和所述监测数据信息的嵌入表征向量...
【技术特征摘要】
1.一种异常数据分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述基于图模型，对所述监测数据信息进行预测处理，得到预测数据信息，包括：
3.根据权利要求1所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述基于所述预测数据信息，对所述监测数据信息进行分析处理，得到数据分析结果，包括：
4.根据权利要求2所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述监测数据信息包括若干个监测设备的监测数据；
5.根据权利要求2所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述对所述第一目标特征向量和所述监测数据信息的嵌入表征向量进行计算处理，得到第二目标特征向量，包括：
6.根据权利要求3所述的异常数据分析方法，其特征在于，所述对所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李鹏，刘阳兴，
申请(专利权)人：武汉TCL集团工业研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
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