【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示产品制作,尤其涉及一种缺陷检测设备和缺陷检测方法。
技术介绍
1、随着社会进步及科技发展,有源矩阵有机发光二极管(amoled)柔性显示器已成为当今时代显示领域的主流产品,在工业生产、日常生活中起到了至关重要的作用,越来越受到人们的青睐。其可弯曲、低能耗、色域光等优点,对比液晶显示面板有着不可比拟的优势。量产柔性面板主要是oled,其制作一般包括在玻璃基板上形成均匀的塑性衬底,再在塑性衬底上依次制作阵列电路、有机发光层及保护发光层的塑性保护层,再将玻璃基板与塑性衬底剥离后,oled主要显示模块制作完成。面板切割后形成最终的显示单元,对产品进行老化以后,需要对面板的显示性能加以测试,以判定显示面板的品质,并将有缺陷的面板根据不良种类收集、维修,以提高产品的良率。
2、有源矩阵有机发光二极管(amoled)柔性显示器的制造技术日趋成熟,行业间的竞争程度也愈演愈烈。其中cell面板(液晶面板)的生产检查环节中自动光学检测系统(aoi)使用日益广泛。aoi采用无人化自动检测的方式,检测速度快、性能稳定、可调控性好,
...【技术保护点】
1.一种缺陷检测设备,用于检测液晶显示面板的液晶盒的裂纹缺陷,其特征在于,包括:上料单元、下料单元,以及沿着液晶盒的传输方向设置于所述上料单元和所述下料单元之间的第一搬运单元、读码单元、第一翻转单元、第二搬运单元、光学检测单元和第三搬运单元;
2.根据权利要求1所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述光学检测单元包括沿着液晶盒的传输方向依次设置的第一光学检测部和第二光学检测部,所述第一光学检测部和所述第二光学检测部之间还设置有第二翻转单元;
3.根据权利要求2所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述第一光学检测部的检测传输方向和所述第二光学检测部检测传
...【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测设备,用于检测液晶显示面板的液晶盒的裂纹缺陷,其特征在于,包括:上料单元、下料单元,以及沿着液晶盒的传输方向设置于所述上料单元和所述下料单元之间的第一搬运单元、读码单元、第一翻转单元、第二搬运单元、光学检测单元和第三搬运单元;
2.根据权利要求1所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述光学检测单元包括沿着液晶盒的传输方向依次设置的第一光学检测部和第二光学检测部,所述第一光学检测部和所述第二光学检测部之间还设置有第二翻转单元;
3.根据权利要求2所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述第一光学检测部的检测传输方向和所述第二光学检测部检测传输方向相平行且相反;
4.根据权利要求3所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述光学检测单元包括至少一个所述第一光学检测部,以及至少一个所述第二光学检测部,在所述第二光学检测部具有至少两个时,部分所述第二光学检测部可复用为所述第一光学检测部。
5.根据权利要求2或3所述的缺陷检测设备,其特征在于,还包括第一控制单元,用于控制所述短边检测部、所述长边检测部和所述面内检测部中的至少一个的工作状态,以使得所述短边检测部、所述长边检测部和所述面内检测部中的至少一个在工作状态和非工作状态之间切换。
6.根据权利要求3所述的缺陷检测设备,其特征在于,还包括第二控制单元,用于控制所述第二翻转单元在工作状态和非工作状态之间切换。
7.根据权利要求1所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述读码单元...
【专利技术属性】
技术研发人员:甘迎金,李朝垒,蒋耀华,李凯强,简活滕,杨磊,宗岩,丁勇,刘康,任晓东,贺宝禄,刘百,杨双双,吴锦合,张丹,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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