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本发明涉及一种缺陷检测设备和缺陷检测方法，缺陷检测设备包括上料单元、下料单元，第一搬运单元、读码单元、第一翻转单元、第二搬运单元、光学检测单元和第三搬运单元；第一搬运单元用于将液晶盒搬运至读码单元；第一翻转单元用于对液晶盒进行翻转；第二搬运...
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