【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及气体泄漏红外成像探测系统，具体涉及一种气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法和气体泄漏红外成像探测系统的性能评估装置。
技术介绍
1、目前，用于评估气体泄漏红外成像探测系统(简称热像仪)性能的方法主要有三种：(1)参考热像仪的传统性能指标，如netd(noise equivalent temperaturedifference，噪声等效温差)或噪声等效光谱辐亮度进行评估，这种方法并不直观，也很难与具体的气体联系起来；(2)直接测量热像仪在特定条件下对特定气体的mdlr(minimumdetectable leak rates，最小可检测泄漏率)，这种方法没有考虑到气体本身的特性，导致其适用性较差；(3)基于噪声-等效浓度路径长度评估预测高光谱图像中气稀薄气体的可探测性，这种方法考虑了气体的吸收，比其他两种方法更合理，但没有考虑气体目标的大小和气云到热像仪的距离。这些方法大都需要搭建复杂的实验场景，工作流程繁琐，工作成本较高。
技术实现思路
1、本专利技术为解决上述技术问题，提...
【技术保护点】
1.一种气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，所述气体泄露红外成像探测系统包括探测器和光学系统，所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，获取所述探测器和所述光学系统的仪器参数，具体包括：
3.根据权利要求2所述的气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，所述待测气体的最小浓度检测下限计算模型为：
4.根据权利要求3所述的气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，所述光学系统包括镜头和滤光片，所述光学系统的透过率包含所述镜头的透过率和所述滤光
...【技术特征摘要】
1.一种气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，所述气体泄露红外成像探测系统包括探测器和光学系统，所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，获取所述探测器和所述光学系统的仪器参数，具体包括：
3.根据权利要求2所述的气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，所述待测气体的最小浓度检测下限计算模型为：
4.根据权利要求3所述的气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，所述光学系统包括镜头和滤光片，所述光学系统的透过率包含所述镜头的透过率和所述滤光片的透过率。
5.根据权利要求1所述的气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法，其特征在于，所述光学系统包括多个不同中心波长的通道，获取所述探测器和所述光学系统的仪器参数...
【专利技术属性】
技术研发人员：李春来，王朋宇，杨扬，唐国良，江锟，袁立银，刘馨泽，卢嘉伟，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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