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本发明提供一种气体泄漏红外成像探测系统的性能评估方法和装置，所述方法包括以下步骤：获取所述探测器和所述光学系统的仪器参数；确定待测气体和探测背景条件；根据所述仪器参数和所述探测背景条件构建所述待测气体的最小浓度检测下限计算模型；调节所述待测...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。

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