【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于激光设备,更具体地,涉及一种基于激光光斑形位的光路检测系统及方法。
技术介绍
1、目前,高功率激光在半导体生产、工业加工领域均有着大量的运用。在mopa(主振荡功率放大)型激光器中由于激光种子源的功率通常较低,需要搭配较长的放大链路实现功率放大,以获得满足需求的输出功率。为缩小激光器的体积,通常在激光器内搭建有多次反射的封闭光路;而在气体激光放大器内还需要在真空状态下充入工作气体,安装拆卸工作更加繁复。
2、在对激光光路进行校准时,主要是通过调节反射镜来实现光路的微调。而封闭光路的长度大多可达几米乃至几十米,在激光器内产生极为复杂的反射,因此需要分段调节。传统的调节方法需要拆卸下各段用于封闭光路的管道,在下一段的入口处通过观察生成的光斑进行光束校正,以确保从光程起点处至输出口各段光路的独立稳定。
3、整个过程十分复杂,而这其中对管道的拆卸占用了绝大多数的人力和时间。同时,多次拆卸管道容易造成接口处的密封性降低,还会降低管道的使用寿命,而拆卸过程中的机体挤压和碰撞也会影响设备内反射镜的形位,这很容易出
...【技术保护点】
1.一种基于激光光斑形位的光路检测系统,其特征在于,包括:反射元件、偏振镜、加热定位柱和检测单元
2.如权利要求1所述的光路检测系统,其特征在于,所述检测单元包括依次连接的热电堆阵列、信号处理器、光电转换器和监视系统;
3.如权利要求2所述的光路检测系统,其特征在于,所述热电堆阵列与所述反射元件平行正对。
4.如权利要求2所述的光路检测系统,其特征在于,所述偏振镜的镜面面积大于所述热电堆阵列的采样范围。
5.如权利要求1所述的光路检测系统,其特征在于,所述加热定位柱的数量大于等于三枚;
6.如权利要求5所述的
...【技术特征摘要】
1.一种基于激光光斑形位的光路检测系统,其特征在于,包括:反射元件、偏振镜、加热定位柱和检测单元
2.如权利要求1所述的光路检测系统,其特征在于,所述检测单元包括依次连接的热电堆阵列、信号处理器、光电转换器和监视系统;
3.如权利要求2所述的光路检测系统,其特征在于,所述热电堆阵列与所述反射元件平行正对。
4.如权利要求2所述的光路检测系统,其特征在于,所述偏振镜的镜面面积大于所述热电堆...
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