【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于测量光学元件性能参数的，特别涉及一种基于光腔衰荡技术测量光学元件光学损耗的数据处理方法。
技术介绍
1、光学损耗的准确测量对于确保光学元件的性能至关重要。高精确度的光学损耗测量有助于识别和改进材料和制造过程中的缺陷，从而提高光学元件的整体质量。此外，可靠的损耗测量对于验证材料的光学特性和预测其在特定应用中的性能同样重要。在高功率激光系统中，光学损耗直接影响系统的输出功率和效率。通过精确测量损耗，可以优化系统设计，减少能量损失，提高激光器的工作效率和稳定性。
2、针对高损耗(损耗>1％)的光学元件，可通过分光光度法测量其反射率r和透射率t，从而准确确定光学损耗(1-r-t)，重复性测量精度约±0.1％，因此无法准确测量低于0.1％的光学损耗。而光腔衰荡技术是一种高精度的光谱测量技术，它借助光学谐振腔增强光与物质相互作用，实现了极高的检测灵敏度，可实现低于0.1％光学损耗的准确测量。由于光腔衰荡技术测量的是衰荡时间而非光强度，因此它对光源功率波动不敏感。光腔衰荡技术已经被证明是一种非常有效的绝对测量小吸收...
【技术保护点】
1.一种消除表面反射对光腔衰荡技术测量光学损耗影响的数据处理方法，其实现步骤如下：
2.根据权利要求1所述的一种消除表面反射对光腔衰荡技术测量光学损耗影响的数据处理方法，其特征在于：所述的激光器为脉冲激光器，光电探测器的响应时间小于100ns。
3.根据权利要求1所述的一种消除表面反射对光腔衰荡技术测量光学损耗影响的数据处理方法，其特征在于：所述的由第一平凹高反射镜2和第二平凹高反射镜4构成的光学谐振腔为稳定腔，初始腔的腔长L0满足0<L0≤2r，其中r为平凹高反射镜凹面的曲率半径。
4.根据权利要求1所述的一种消除表面反射对...
【技术特征摘要】
1.一种消除表面反射对光腔衰荡技术测量光学损耗影响的数据处理方法，其实现步骤如下：
2.根据权利要求1所述的一种消除表面反射对光腔衰荡技术测量光学损耗影响的数据处理方法，其特征在于：所述的激光器为脉冲激光器，光电探测器的响应时间小于100ns。
3.根据权利要求1所述的一种消除表面反射对光腔衰荡技术测量光学损耗影响的数据处理方法，其特征在于：所述的由第一平凹高反射镜2和第二平凹高反射镜4构成的光学谐振腔为稳定腔，初始腔的腔长l0满足0<l0≤2r，其中r为平凹高反射镜凹面的曲率半径。
4.根据权利要求1所述的一种消...
【专利技术属性】
技术研发人员：李斌成，蔡炳华，王静，韩艳玲，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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