坏点检测方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请公开了一种坏点检测方法、装置、设备及介质，属于图像处理技术领域。首先，确定待检测图像各待检测像素中目标像素的可见邻域中包含目标像素的CFA样式以及包含目标像素的CFA实例块；然后，根据CFA样式的像素数量以及不同颜色通道相关性定义用于进行空间变换的特征空间变换矩阵；接着，使用特征空间变换矩阵对CFA实例块进行特征空间变换，得到高维空间下的特征空间变换结果；最后，基于特征空间变换结果确定目标像素的坏点掩膜，使用坏点掩膜表征目标像素具有的显著特征，并基于坏点掩膜确定目标像素是否为特征凸显的坏点。解决难以灵活且适用性强的进行准确坏点检测的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及图像处理领域，尤其涉及一种坏点检测方法、坏点检测装置、坏点检测设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

1、在相机成像系统中，由于镜头(l ens)和感光器件(sensor)的工艺限制，导致不可避免地在后端i sp(image s igna l processor,图像信号处理器)中产生坏点。坏点一般定义为明显亮于或暗于其邻域的像素。坏点极大地影响图像主观质量，降低i sp后续图像增强模块的例如去噪、去马赛克以及锐化等功能及效果。坏点检测(defect pixe l detection)模块作为i sp前端模块，对传感器输入图片进行坏点检测和修复，良好的坏点检测模块性能对于提升整体图像主观画质起到了重要作用。

2、现有坏点检测方法主要基于对比目标像素点和其邻域值，以判断目标像素点是否为可能的坏点。其中，目标像素点和与其相比较的邻域值需要从属于同样的颜色通道。以传感器支持rggb格式来说明，若目标像素点从属于r(red)通道，那么与其进行对比的邻域只能从邻域r通道中抽样，这样不可避免地丢失了g(green)和b(b l ue)通道中的色彩相本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种坏点检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，所述使用所述特征空间变换矩阵对所述CFA实例块进行特征空间变换，得到特征空间变换结果的步骤，包括：

3.如权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，所述基于所述特征空间变换结果确定所述目标像素的坏点掩膜的步骤之前，还包括：

4.如权利要求3所述的坏点检测方法，其特征在于，所述基于所述特征空间变换结果确定所述目标像素的坏点掩膜的步骤，包括：

5.如权利要求4所述的坏点检测方法，其特征在于，所述特征空间变换矩阵中的特征值与所述CFA样式中像素的位置...

【技术特征摘要】

1.一种坏点检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，所述使用所述特征空间变换矩阵对所述cfa实例块进行特征空间变换，得到特征空间变换结果的步骤，包括：

3.如权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，所述基于所述特征空间变换结果确定所述目标像素的坏点掩膜的步骤之前，还包括：

4.如权利要求3所述的坏点检测方法，其特征在于，所述基于所述特征空间变换结果确定所述目标像素的坏点掩膜的步骤，包括：

5.如权利要求4所述的坏点检测方法，其特征在于，所述特征空间变换矩阵中的特征值与所述cfa样式中像素的位置一一对应，所述切换所述特征空间变换矩阵的维度和所述cfa样式的步骤，包括：

6.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：张浩源，陈玮，曹宇宁，刘源，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：