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本申请公开了一种坏点检测方法、装置、设备及介质,属于图像处理技术领域。首先,确定待检测图像各待检测像素中目标像素的可见邻域中包含目标像素的CFA样式以及包含目标像素的CFA实例块;然后,根据CFA样式的像素数量以及不同颜色通道相关性定义用于...该专利属于深圳市中兴微电子技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市中兴微电子技术有限公司授权不得商用。
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本申请公开了一种坏点检测方法、装置、设备及介质,属于图像处理技术领域。首先,确定待检测图像各待检测像素中目标像素的可见邻域中包含目标像素的CFA样式以及包含目标像素的CFA实例块;然后,根据CFA样式的像素数量以及不同颜色通道相关性定义用于...