【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
0、
技术介绍
1、辐射探测器是测量辐射特性的装置。该特性的示例可以包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。由辐射检测器测量的辐射可以是已经透过物体的辐射。辐射检测器测量的辐射可以是电磁辐射，例如红外光、可见光、紫外光、x射线或γ射线。辐射可以是其他类型的，例如α射线和β射线。成像系统可以包括一个或多个图像传感器，每个图像传感器可以具有一个或多个辐射检测器。
技术实现思路
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技术实现思路
1、本文公开了一种成像系统，所述成像系统包括图像传感器，所述图像传感器包括：m个辐射检测器的堆栈，每个所述辐射检测器包括(a)辐射吸收层和(b)被配置为处理在所述辐射吸收层中产生的电信号的电子器件层，m为大于1的整数；以及分别用于所述m个辐射检测器的m个电子器件层的m个准直器区域，其中存在用于所述图像传感器的参考直线，使得对于所述m个电子器件层中的每个电子器件层，与所述每个电子器件层相交且平行于所述参考直线的每条直线与对应的准直器区域相交，并且其中对于所述m个辐射...
【技术保护点】
1.一种成像系统，包括图像传感器，所述图像传感器包括：
2.根据权利要求1所述的成像系统，其中，所述M个准直器区域分别位于所述M个电子器件层上并与所述M个电子器件层直接物理接触。
3.根据权利要求1所述的成像系统，还包括辐射源，
4.根据权利要求1所述的成像系统，
5.根据权利要求1所述的成像系统，
6.根据权利要求1所述的成像系统，其中，所述M个准直器区域包含钨。
7.根据权利要求1所述的成像系统，
8.根据权利要求1所述的成像系统，
9.根据权利要求8所述的成像系统，<...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种成像系统，包括图像传感器，所述图像传感器包括：
2.根据权利要求1所述的成像系统，其中，所述m个准直器区域分别位于所述m个电子器件层上并与所述m个电子器件层直接物理接触。
3.根据权利要求1所述的成像系统，还包括辐射源，
4.根据权利要求1所述的成像系统，
5.根据权利要求1所述的成像系统，
6.根据权利要求1所述的成像系统，其中，所述m个准直器区域包含钨。
7.根据权利要求1所述的成像系统，
8.根据权利要求1所述的成像系统，
9.根据权利要求8所述的成像系统，
10.根据权利要求8所述的成像系统，
11.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹培炎，刘雨润，
申请(专利权)人：深圳帧观德芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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