【技术实现步骤摘要】
【】本专利技术涉及倍频负反射器领域,尤其涉及一种基于相位梯度超表面的倍频负反射器。
技术介绍
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技术介绍
1、超表面已经成为控制电磁波和声波的重要工具,其中具有相位调制和衍射光栅功能的相位梯度超光栅(pgm)因其厚度薄、制造简单和平面配置能特点受到广泛关注。相位梯度超光栅已经应用到非对称传输、漩涡光束生成、全息成像、负反射和负折射等领域,但是其依然存在带宽狭窄和色散等问题。特别地,现有的相位梯度超光栅相关器件主要是针对目标频率设计,这样能够保证器件在单一工作频率上表现出完美的负反射性能。但是随着工作频率偏离目标频率,器件的负反射效率将不可避免降低。虽然可以在器件的光学超表面引入具有消色差或带宽拓展功能的元件(比如超构透镜)来获得宽带器件,但是目前依然缺乏相应机制来在单个相位梯度超光栅中实现多频负反射。
技术实现思路
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技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种基于相位梯度超表面的倍频负反射器,包括基底,以及设置在基底的表面沿预定方向周期性排列的若干超
...【技术保护点】
1.一种基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,所述超光栅单元的周期p=c/f1,其中,c表示光速;在所述超光栅单元内部,每个光栅刻凹槽的周期a=p/m。
3.根据权利要求2所述的基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,在所述超光栅单元内部,每个光栅刻凹槽的宽度w=0.9a。
4.根据权利要求2所述的基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,在所述超光栅单元内部沿所述预定方向排列的第一个光栅刻凹槽的深度h1=0.7p,并且任意相邻两个光栅刻
...【技术特征摘要】
1.一种基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,所述超光栅单元的周期p=c/f1,其中,c表示光速;在所述超光栅单元内部,每个光栅刻凹槽的周期a=p/m。
3.根据权利要求2所述的基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,在所述超光栅单元内部,每个光栅刻凹槽的宽度w=0.9a。
4.根据权利要求2所述的基于相位梯度超表面的倍频负反射器,其特征在于,在所述超光栅单元内部沿所述预定方向排列的第一个光栅刻...
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