半导体封装方法、半导体组件及电子设备技术

技术编号:41735730 阅读:39 留言:0更新日期:2024-06-19 12:55
本公开涉及半导体封装技术领域的一种半导体封装方法、半导体组件及电子设备,该半导体封装方法包括:提供第一载板,并于第一载板一侧形成转接层;对转接层以及第一载板进行切割,形成至少两个转接单元;提供半导体器件,并将半导体器件封装于转接单元的一侧。由此,在对半导体器件进行封装前,对转接层进行切割,得到小尺寸的转接单元,然后在转接单元上进行半导体器件的封装,减小了封装作业面积,既能有效控制封装翘曲,又有利于降低设备成本,同时切割后的单元可以剔除掉坏点区域,只对合格的转接单元进行封装,减少了封装中假片的使用量,进一步降低封装成本。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及半导体封装,尤其涉及一种半导体封装方法、半导体组件及电子设备


技术介绍

1、半导体封装产业为了满足各种高密度封装的需求,逐渐发展处各种不同形式的封装构造,例如台积电提出的芯片-晶圆-基板(chip-on-wafer-on-substrate,cowos)封装技术,利用有机中介层(organic interposer)实现2.5d高密度集成,根据中介层的不同cowos技术又分为以下三种:(1)使用硅(silicon)衬底作为中介层的cowos_s;(2)使用重新布线层(rdl)作为中介层的cowos_r(rdl interposer);(3)使用小芯片(chiplet)和rdl作为中介层的cowos_l。

2、半导体的高密度封装多使用晶圆级封装工艺和设备实现,其制造成本高昂,同时由于设备工艺和材料的限制,导致传统基板生产厂商不能够通过面板级(panel-level)封装方法实现半导体的高密度封装。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本公开提供了一种半导体封装方法、半导体组件及电子设本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体封装方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体封装方法,其特征在于,所述转接单元包括第一转接单元,所述第一转接单元包括第一转接层和所述第一载板;

3.根据权利要求2所述的半导体封装方法,其特征在于,在去除所述第一载板之后,所述半导体封装方法还包括:

4.根据权利要求2所述的半导体封装方法,其特征在于,所述转接单元还包括第八转接单元,所述第八转接单元包括第八转接层和所述第一载板;

5.根据权利要求1所述的半导体封装方法,其特征在于,所述转接单元包括第二转接单元和第三转接单元,所述第二转接单元包括第二转接层和所述第一...

【技术特征摘要】

1.一种半导体封装方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体封装方法,其特征在于,所述转接单元包括第一转接单元,所述第一转接单元包括第一转接层和所述第一载板;

3.根据权利要求2所述的半导体封装方法,其特征在于,在去除所述第一载板之后,所述半导体封装方法还包括:

4.根据权利要求2所述的半导体封装方法,其特征在于,所述转接单元还包括第八转接单元,所述第八转接单元包括第八转接层和所述第一载板;

5.根据权利要求1所述的半导体封装方法,其特征在于,所述转接单元包括第二转接单元和第三转接单元,所述第二转接单元包括第二转接层和所述第一载板,所述第三转接单元包括第三转接层和所述第一载板;

6.根据权利要求1所述的半导体封装方法,其特征在于,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙伟
申请(专利权)人:上海箴芯半导体服务有限公司
类型:发明
国别省市:

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