仪控系统的设定值测试方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种仪控系统的设定值测试方法、装置、存储介质及电子设备，该方法包括：获取标准设定值文件；对标准设定值文件进行格式转换，获得标准设定值表格文件；标准设定值表格文件中包含各个功能块对应的分表；每个功能块对应的分表中记录每个功能块的各个设定值信息，每个设定值信息包括第一设定值参数和第二设定值参数中的至少一种；将标准设定值表格文件中的第一设定值参数与数据库文件中的第一目标设定值参数进行比对测试，获得第一测试结果；将标准设定值表格文件中的第二设定值参数与预设的算法块中的第二待目标设定值参数进行比对测试，获得第二测试结果；输出第一测试结果以及所述第二测试结果。能够快速准确地完成设定值的测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机，特别涉及一种仪控系统的设定值测试方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

1、核电厂的仪控系统在运行过程中，需要设置大量的传感器参数和驱动类设备参数的设定值，仪控系统中传感器参数的设定值和驱动类设备参数的设定值在核电厂安全运行起到非常关键的作用，因此，在核电非安全级仪控系统的工厂测试阶段中，需要对设定值进行严格的测试。

2、现有技术中，通常是通过人工的方式对各个设定值进行测试，然而，仪控系统中的设定值包含的数据类型比较庞大而且每种数据类型的参数也比较多，通过人工测试的方式速度和准确率较低，无法及时完成测试任务。

技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题是提供一种仪控系统的设定值测试方法、装置、存储介质及电子设备，能够快速准确地完成设定值的测试。具体方案如下：

2、一种仪控系统的设定值测试方法，包括：

3、响应于设定值测试指令，获取标准设定值文件；所述标准设定值文件包括仪控系统的多个功能块的设定值信息；

4、对所述标准设定值文件进行格本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种仪控系统的设定值测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述标准设定值表格文件中的第一设定值参数与预设的数据库文件中待测试的第一目标设定值参数进行比对测试，获得第一测试结果，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将每个所述第一目标功能块对应的分表中的第一设定值参数以及工作表文件中的第一目标设定值参数进行比对测试，获得第一测试结果，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将标准设定值表格文件中的第二设定值参数与预设的算法块中待测试的第二待目标设定值参数进行比对测试，获得第二测试结...

【技术特征摘要】

1.一种仪控系统的设定值测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述标准设定值表格文件中的第一设定值参数与预设的数据库文件中待测试的第一目标设定值参数进行比对测试，获得第一测试结果，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将每个所述第一目标功能块对应的分表中的第一设定值参数以及工作表文件中的第一目标设定值参数进行比对测试，获得第一测试结果，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将标准设定值表格文件中的第二设定值参数与预设的算法块中待测试的第二待目标设定值参数进行比对测试，获得第二测试结果，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述第二目标功能块对应的分表的第二设定...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘鹏飞，高庆怡，马维，王伟，杨昊，龚顺超，
申请(专利权)人：北京广利核系统工程有限公司，
类型：发明
国别省市：